辻 幸一(ツジ コウイチ)TSUJI Kouichi

更新日:2017/03/27

プロフィール

主な取得学位

  • 工学博士

主な専門分野

  • 工業分析化学

現在の研究概要

  • X線分析は試料を大気圧下で非破壊的に元素分析が可能である。現在、さらに微小量の試料、微小部の分析が可能となるように、装置の改良、新しいアイデアの実現に向けて研究を行っている。X線レンズによる微小部蛍光X線分析法や3次元蛍光X線分析法の開発、全反射蛍光X線分析による微量分析法、蛍光X線イメージング法の開発を行い、基礎科学や工業製品の不良解析への応用、環境試料分析、法科学(鑑識科学)への応用に関する研究を進めてる。

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主な経歴

取得学位

  • 工学博士

学歴

  • 東北大学 工学研究科 金属工学 博士課程
  • 東北大学 工学部 材料物性学科

職歴

  • 2008-年 大阪市立大学大学院工学研究科 教授
  • 2007-2008年 大阪市立大学大学院工学研究科 准教授
  • 2004-2008年 科学技術振興機構-さきがけ研究員(兼任)
  • 2002-2007年 大阪市立大学大学院工学研究科 助教授
  • 2002-2002年 東北大学学際科学研究センター教官 兼任
  • 1998-1999年 日本学術振興会特定国派遣研究者(派遣先:ベルギー・アントワープ大学)
  • 1992-2002年 東北大学 金属材料研究所 助手

受賞学術賞

  • 2014年 平成25年度地盤工学会賞(地盤環境賞)(地盤工学会基準部ISO国内委員会 TC190/SC 3/WG10運営WG)
  • 2014年 (一社)日本鉄鋼協会 共同研究賞(山岡賞)(鋼中非金属介在物粒子の多面的評価研究会)
  • 2013年 TXRF2013ベストポスター賞
  • 2013年 デンバーX線会議2012ベストポスター賞(2)
  • 2013年 デンバーX線会議2013ベストポスター賞(1)
  • 2013年 平成24年大阪ニュクリアサイエンス協会賞
  • 2012年 デンバーX線会議2012ベストポスター賞
  • 2010年 デンバーX線会議2010ベストポスター賞
  • 2007年 大阪市立大学学友会平成19年度優秀教育賞
  • 2005年 デンバーX線会議2005ベストポスター賞
  • 2005年 国際分光学会議CSI-2005ポスター賞
  • 2003年 TXRF2003ベストポスター賞
  • 2002年 EDXRS2002若手研究者賞
  • 2002年 EDXRS2002ベストポスター賞
  • 2002年 ART2002ポスター賞
  • 1997年 日本分析化学会奨励賞
  • 1997年 原田研究奨励賞
  • 1996年 日本応用物理学会講演奨励賞
  • 1995年 日本表面科学会奨励賞

現在の主な研究課題

現在の専門分野

  • 工業分析化学
  • 工業物理化学
  • 分離・精製・検出法

現在の研究課題

  • 課題名:X線や電子線を用いる微小部微量分析法の開発と応用
    研究分野:工業分析化学、表面界面物性、分離・精製・検出法
    キーワード:全反射蛍光X線分析、3次元元素分析、環境分析
  • 課題名:グロー放電プラズマの分光分析への応用
    研究分野:工業分析化学、工業物理化学
    キーワード:グロー放電、プラズマプロセス、発光分析
  • 課題名:走査プローブ顕微鏡の分析的応用
    研究分野:表面界面物性、工業分析化学
    キーワード:走査プローブ顕微鏡、微小部分析、表面科学

現在の研究概要

  • X線分析は試料を大気圧下で非破壊的に元素分析が可能である。現在、さらに微小量の試料、微小部の分析が可能となるように、装置の改良、新しいアイデアの実現に向けて研究を行っている。X線レンズによる微小部蛍光X線分析法や3次元蛍光X線分析法の開発、全反射蛍光X線分析による微量分析法、蛍光X線イメージング法の開発を行い、基礎科学や工業製品の不良解析への応用、環境試料分析、法科学(鑑識科学)への応用に関する研究を進めてる。

主要な研究業績

著書・論文

  • Micro-X-ray Fluorescence
    種別:著書
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:Encyclopedia of Analytical Chemistry, eds. R.A. Meyers, John Wiley: Chichester
    巻/号、頁:00-00頁
    共著者名:K. Tsuji
  • 「14章3節 共焦点型微小部蛍光X線分析」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:206-207頁
  • 「14章2節 ポリキャピラリーX線集光素子と微小部蛍光X線分析」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:204-205頁
  • 「14章1節 斜出射X線分析」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:202-203頁
  • 「8章 全反射蛍光X線分析法」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:130-141頁
  • WD-XRF Imaging with Polycapillary Optics under Glancing Incidence Geometry
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:59巻120-124頁
    共著者名:Y. Takimoto, M. Yamanashi, S. Kato, T. Shoji, N. Kometani, K. Tsuji
  • Sample Preparation for TXRF Analysis of Metal Particles in Used Machine Oils and Preliminary Research for Application of Principal Component Analysis,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:59巻112-119頁
    共著者名:T. Matsuno, Y. Tabuchi, R. Hosomi, T. Hasegawa, N. Kometani, K. Tsuji
  • Secondary Excitation Observed in Lateral Scan Using Confocal Micro-XRF,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:59巻77-84頁
    共著者名:N. Kawahara, T. Matsuno, Y. Takimoto, K. Tsuji
  • Chapter11-1 “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS” and Chapter 14-2-2 “Soft and hard X-ray microscopes and their applications”
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:A Guide to Synchrotron Radiation Science, edited by Makoto Watanabe, Shigeo Sato, Ian Munro and G. S. Lodhain , Narosa Publishing House Pvt. Ltd.
  • TXRF intensity dependence on position of dried residue on sample carrier and TXRF determination of halogen in liquid samples,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:X-Ray Spectrometry
    巻/号、頁:45巻197-201頁
    共著者名:Y. Tabuchi, K. Tsuji,
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  • Micro-X-ray Fluorescence
    種別:著書
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:Encyclopedia of Analytical Chemistry, eds. R.A. Meyers, John Wiley: Chichester
    巻/号、頁:00-00頁
    共著者名:K. Tsuji
  • 「14章3節 共焦点型微小部蛍光X線分析」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:206-207頁
  • 「14章2節 ポリキャピラリーX線集光素子と微小部蛍光X線分析」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:204-205頁
  • 「14章1節 斜出射X線分析」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:202-203頁
  • 「8章 全反射蛍光X線分析法」(分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店
    巻/号、頁:130-141頁
  • WD-XRF Imaging with Polycapillary Optics under Glancing Incidence Geometry
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:59巻120-124頁
    共著者名:Y. Takimoto, M. Yamanashi, S. Kato, T. Shoji, N. Kometani, K. Tsuji
  • Sample Preparation for TXRF Analysis of Metal Particles in Used Machine Oils and Preliminary Research for Application of Principal Component Analysis,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:59巻112-119頁
    共著者名:T. Matsuno, Y. Tabuchi, R. Hosomi, T. Hasegawa, N. Kometani, K. Tsuji
  • Secondary Excitation Observed in Lateral Scan Using Confocal Micro-XRF,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:59巻77-84頁
    共著者名:N. Kawahara, T. Matsuno, Y. Takimoto, K. Tsuji
  • Chapter11-1 “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS” and Chapter 14-2-2 “Soft and hard X-ray microscopes and their applications”
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2016年00月
    出版社:A Guide to Synchrotron Radiation Science, edited by Makoto Watanabe, Shigeo Sato, Ian Munro and G. S. Lodhain , Narosa Publishing House Pvt. Ltd.
  • TXRF intensity dependence on position of dried residue on sample carrier and TXRF determination of halogen in liquid samples,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:X-Ray Spectrometry
    巻/号、頁:45巻197-201頁
    共著者名:Y. Tabuchi, K. Tsuji,
  • 共焦点型微小部蛍光X線分析におけるX線理論強度計算
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:47巻293-300頁
    共著者名:河原 直樹, 松野 剛士, 辻 幸一
  • 蛍光X線分析用標準物質の均質性と微小部蛍光X線分析への適応
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:47巻263-270頁
    共著者名:山梨 眞生, 後藤 淳志, 辻 幸一
  • Visualizing a black cat drawing hidden inside the painting by confocal micro-XRF analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Microchemical Journal
    巻/号、頁:126巻496-500頁
    共著者名:Kazuhiko Nakano, Atsushi Tabe, Susumu Shimoyama, Kouichi Tsuji
  • Study of metal release from stainless steels in simulated food contact by means of total reflection X-ray fluorescence
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2016年00月
    出版社:Journal of Food Engineering
    巻/号、頁:173巻85-91頁
    共著者名:R. Dalipi, L. Borgese, A. Casaroli, M. Boniardi, U. Fittschen, K. Tsuji, L.E. Depero
  • New developments of X-ray fluorescence imaging techniques in laboratory
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:Spectrochim. Acta Part B
    巻/号、頁:113巻45-53頁
    共著者名:K.Tsuji, T.Matsuno, Y.Takimoto, M.Yamanashi, N.Kometani, Y.C.Sasaki, T.Hasegawa, S.Kato, T.Yamada, T.Shoji, N.Kawahara
  • Secondary excitation process for quantitative confocal 3D-XRF analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:Powder Diffraction
    巻/号、頁:30巻109-112頁
    共著者名:Kouichi Tsuji, Atsushi Tabe, Peter Wobrauscheck, Christina Streli
  • Determination of trace elements in Italian wines by means of total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:Intern. J. Environ. Anal. Chem., 2015, http://dx.doi.org/10.1080/03067319.2015.1036861
    共著者名:R. Dalipi, L. Borgese, A. Zacco, K. Tsuji, E. Sangiorgi, R. Piro, E. Bontempi and L. E. Depero
  • (Book review), Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods, Second Edition Edited by Reinhold Klockenkaemper and Alex von Bohlen (John Wiley & Sons Inc., New Jersey, 2015) .
    種別:書評
    単著・共著別:単著
    出版年月:2015年00月
    出版社:X-ray spectrom.
    巻/号、頁:44巻417頁
  • 「玩具表面から溶出する微量な重金属のモニター技術」 微量金属分析とその前処理技術 10章8節
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2015年03月
    出版社:株式会社技術情報協会
    巻/号、頁:423-429頁
  • Preliminary experiment of X-ray diffraction imaging
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., B
    巻/号、頁:355巻272-275頁
    共著者名:Masaki Yamanashi, Noritsugu Kometani, and Kouichi Tsuji
  • On X-Ray Channeling in a Vibrating Capillary
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., B
    巻/号、頁:355巻289-292頁
    共著者名:A. Liedl, S.B. Dabagov, D. Hampai, C. Polese, and K. Tsuji
  • 共焦点型蛍光X線分析法による置換めっきプロセスのモニタリング
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:46巻269-276頁
    共著者名:北戸 雄大、平野 新太郎、米谷 紀嗣、 辻 幸一、
  • Confocal micro-XRF analysis of light elements with Rh X-ray tube and its application for painted steel sheet
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:44巻186-189頁
    共著者名:Ryota Yagi and Kouichi Tsuji
  • Secondary Excitation Process for Quantitative Confocal 3D-XRF Analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2015年00月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:58巻191-199頁
    共著者名:Kouichi Tsuji, Atsushi Tabe, Peter Wobrauscheck, Christina Streli
  • Development of a compact grazing exit X-ray fluorescence spectrometer for fast trace elemental analysis
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2014年11月
    出版社:Spectrochimica Acta Part B
    巻/号、頁:101巻200-203頁
  • First Total Reflection X-Ray Fluorescence round-robin test of water samples: Preliminary results
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年11月
    出版社:Spectrochimica Acta Part B
    巻/号、頁:101巻6-14頁
    共著者名:Laura Borgese, Fabjola Bilo, Kouichi Tsuji, et. al.
  • Underfilm corrosion of steel sheets observed by confocal 3D-XRF technique
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年06月
    出版社:Powder Diffraction.
    巻/号、頁:29巻2号151-154頁
    共著者名:K. Akioka, T. Nakazawa, T. Doi, M. Arai, and K. Tsuji
  • 微小部蛍光X線分析法を用いた都市河川大和川における天然アユ遡上数の推定
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年00月
    出版社:環境アセスメント学会誌
    巻/号、頁:12巻1号101-108頁
    共著者名:浪田 真由、恩地 啓実、板谷 天馬、中澤 隆、辻 幸一、矢持 進
  • Elemental depth imaging of solutions for monitoring corrosion process of steel sheet by confocal micro-XRF
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年07月
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:43巻4号216-220頁
    共著者名:S. Hirano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, and K. Tsuji
  • Comparison of two confocal micro-XRF spectrometers with different design aspects
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年03月
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:43巻93-101頁
    共著者名:S. Smolek, T. Nakazawa, A. Tabe, K. Nakano, K. Tsuji, C. Streli, and P. Wobrauschek
  • 3次元蛍光X線分析法による鉄鋼試料表面近傍の元素分布の可視化
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年07月
    出版社:鉄と鋼
    巻/号、頁:100巻7号897-904頁
    共著者名:辻 幸一、平野 新太郎、八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史
  • 第49 回X 線分析討論会および第15 回全反射蛍光X 線分析法(TXRF2013)国際会議合同会議報告
    種別:会議報告
    単著・共著別:単著
    出版年月:2014年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:45巻349-357頁
  • 第62 回デンバーX 線会議報告
    種別:会議報告
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:45巻341-344頁
    共著者名:秋岡 幸司、辻 幸一
  • 共焦点型3 次元蛍光X 線分析法によるリチウムイオン二次電池の電極材料分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:45巻241-250頁
    共著者名:八木 良太、平野 新太郎、辻 幸一、Mareike Falk、Jurgen Janek、Ursula Fittschen
  • ストレートポリキャピラリーと二次元検出器を備えた波長分散型蛍光X 線イメージング装置の開発と特性評価
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2014年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:45巻129-138頁
    共著者名:江本 精二、辻 幸一、加藤 秀一、山田 隆、庄司 孝
  • Fundamental Characteristics of Hybrid X-ray Focusing Optics for Micro X-ray Fluorescence Analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年
    出版社:Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B
    巻/号、頁:309巻260-263頁
    共著者名:S. Komatani, K. Nakamachi, K. Nakano, S. Ohzawa, H. Uchihara, A. Bando, and K. Tsuji
  • Elemental depth profiling of forensic samples by confocal 3D-XRF method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:55巻217-224頁
    共著者名:S. Emoto, K. Otsuki, K. Nakano, and K. Tsuji
  • Micro X-ray Beam Produced with a Single Glass Capillary for XRF Analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:55巻225-233頁
    共著者名:S. Komatani, S. Hirano, T. Aoyama, Y. Yokota, H. Ueda, and K. Tsuji
  • Wavelength dispersive X-ray fluorescence imaging using a high-sensitivity imaging sensor
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年
    出版社:Spectrochim. Acta, Part B
    巻/号、頁:83-84巻56-60頁
    共著者名:T. Ohmori, S. Kato, M. Doi, T. Shoji, and K. Tsuji
  • Depth-selective elemental imaging of microSD card by confocal micro-XRF analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:42巻123-127頁
    共著者名:T. Nakazawa and K. Tsuji
  • Development of a high resolution confocal micro-XRF instrument equipped with a vacuum chamber
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年09月
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:42巻374-379頁
    共著者名:T. Nakazawa and K. Tsuji,
  • 複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:44巻111-119頁
    共著者名:松矢 淳宣、辻 幸一
  • SEM Observation of Inclusions in Steel Samples after Fast Surface Cleaning by Glow Discharge
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年00月
    出版社:ISIJ International, 53 (2013) 1936-1938.
    巻/号、頁:53巻1936-1938頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Shimizu
  • X-Ray Elemental Imaging in Depth by Combination of FE-SEM-EDS and Glow Discharge Sputtering
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年00月
    出版社:ISIJ International
    巻/号、頁:53巻1939-1942頁
    共著者名:F. Onoue and K. Tsuji
  • Elemental Depth Analysis of Corroded Paint-Coated Steel by Confocal Micro-XRF Method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2013年00月
    出版社:ISIJ International
    巻/号、頁:53巻1953-1957頁
    共著者名:K. Nakano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, H. Takabe, and K. Tsuji
  • 蛍光X線イメージング(総説記事)
    種別:総説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2013年06月
    出版社:分光研究
    巻/号、頁:62巻3号119-127頁
  • Liquid / Liquid Near Interface Analysis by Micro-XRF Using Needle-Type Collimators,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年12月
    出版社:Memoirs of the Faculty of Engineering Osaka City University
    巻/号、頁:53巻27-30頁
    共著者名:Y. Nishida, K. Tsuji
  • Development of X-ray 2D dispersive device for WD-XRF imaging spectrometer
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年06月
    出版社:Powder Diffraction
    巻/号、頁:27巻71-74頁
    共著者名:T. Ohmori, M. Hatayama, T. Ohchi, H. Ito, H. Takenaka, K. Tsuji,
  • 微小部蛍光X線分析法によるアユの耳石中のSr分布解析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年07月
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:61巻637-642頁
    共著者名:中澤 隆、中野和彦、恩地啓実、浪田真由、矢持 進、辻 幸一
  • Development of 2d Dispersive Device for XRF Imaging Spectrometer
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:55巻228-233頁
    共著者名:T. Ohmori, M. Hatayama, H. Takenaka, K. Tsuji
  • 海水試料の全反射蛍光X 線分析における試料準備方法の検討
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:43巻211-221頁
    共著者名:吉岡達史、今西由紀子、辻 幸一、高部秀樹、秋岡幸司、土井教史、荒井正浩
  • 小型X線分析顕微鏡の開発
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年03月
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:43巻241-247頁
    共著者名:駒谷慎太郎、青山朋樹、大澤澄人、辻 幸一
  • X-ray Spectrometry (Review Article)
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2012年01月
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:84巻636-668頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano, Y. Takahashi, K. Hayashi, C.-U. Ro
  • Micro-X-ray Fluorescence
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2011年02月
    出版社:Encyclopedia of Analytical Chemistry, Supplementary vol. S1-S3, eds. R.A. Meyers, John Wiley&Sons, Ltd. Chichester, UK.
    巻/号、頁:1949-1972頁
  • Development of a new confocal 3D-XRF instrument with an X-ray tube
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2011年02月
    出版社:J. Anal. At. Spectrom.
    巻/号、頁:26巻305-309頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano,
  • Depth Elemental Imaging of Forensic Samples by Confocal micro-XRF Method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2011年03月
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:83巻3477-3483頁
    共著者名:K. Nakano, C. Nishi, K. Otsuki, Y. Nishiwaki, K. Tsuji
  • Enhancement of XRF intensity by using Au coated glass-capillary
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2011年08月
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:54巻238-246頁
    共著者名:T. Nakazawa, K. Nakano, M.Yoshida, K. Tsuji
  • Enhancement of XRF intensity by using Au-coated glass monocapillary
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2011年06月
    出版社:Powder Diffraction
    巻/号、頁:26巻163-167頁
    共著者名:T. Nakazawa, K. Nakano, M. Yoshida, K. Tsuji
  • 蛍光X線分析法による表面界面元素分析(総説記事)
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2011年11月
    出版社:日本接着学会誌
    巻/号、頁:47巻444-452頁
  • Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Imaging
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2011年07月
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:83巻6389-6394頁
    共著者名:Tsuji, T. Ohmori, M. Yamaguchi
  • 固体試料の内部を探る世界最高レベルの3次元蛍光X線分析法の開発
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2011年07月
    出版社:「共創・協奏 -産学連携成功のキーワード-」独立行政法人科学技術振興機構JSTイノベーションプラザ大阪編、丸善
    巻/号、頁:271-282頁
  • 微小部蛍光X線分析と元素イメージング(進歩総説)
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2011年11月
    出版社:ぶんせき
    巻/号、頁:11巻654-661頁
    共著者名:中澤 隆、中野 和彦、辻 幸一
  • 分析化学用語辞典(X線関連の用語解説を分担執筆)
    種別:著書
    単著・共著別:その他
    出版年月:2011年10月
    出版社:オーム社出版局
    共著者名:社団法人日本分析化学会編
  • Micro x-ray fluorescence using a pinhole aperture in quasi-contact mode
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:J. Anal. At. Spectrom.
    巻/号、頁:17巻1405-1407頁
    共著者名:K. Tsuji, F. Delalieux
  • Localized Thin-Film Analysis by Grazing-Exit EPMA (GE-EPMA)
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:Spectrochim. Acta. B
    巻/号、頁:57巻897-906頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma, F. Delalieux, Z. Spolnik
  • Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis of ultra-thin films and single particles
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:Anal. Chim. Acta.
    巻/号、頁:455巻245-252頁
    共著者名:Z. Spolnik, J. Zhang, K. Wagastuma, K. Tsuji
  • Airborne particles in the Miyagi Museum of Art in Sendai, Japan, Studied by Electron Probe X-Ray Microanalysis and Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:Anal. Sci.
    巻/号、頁:18巻561-566頁
    共著者名:J. Injuk, J. Osán, R. Van Grieken, K. Tsuji
  • Enhancement of TXRF Intensity by Using a Reflector
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:X-Ray Spectrom
    巻/号、頁:31巻358-362頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma
  • 斜出射X線分析-EPMAとXRFへの応用
    種別:総説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2003年
    出版社:ぶんせき
    巻/号、頁:338巻83-88頁
  • 斜出射X線測定とSTMによる局所表面分析
    種別:解説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2002年
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:51巻605-612頁
  • Quantitative analysis of metallic ultra-thin films by grazing-exit electron probe x-ray microanalysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:X-Ray Spectrometry
    巻/号、頁:31巻178-183頁
    共著者名:Z. Spolnik, K. Tsuji, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma
  • X-Ray Spectrometry: Recent TechnologicalAdvances
    種別:著書
    単著・共著別:共著
    出版年月:2004年
    出版社:John Wiley& Sons, Ltd
    巻/号、頁:603頁
    共著者名:K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken
  • Grazing-Exit X-Ray Spectrometry
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, John Wiley& Sons, Ltd
    巻/号、頁:293-305頁
  • 全反射蛍光X線分析
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:「新訂版・表面科学の基礎と応用」(エヌ・ティー・エス)
    巻/号、頁:709-715頁
  • 蛍光X線分析
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:「放射光科学入門」(東北大学出版会)
    巻/号、頁:274-279頁
  • 斜出射蛍光X線分析
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2005年
    出版社:「蛍光X線分析の実際」(朝倉書店)
    巻/号、頁:206-207頁
  • 全反射蛍光X線分析のための血液試料サンプリング方法の検討
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:54巻749-754頁
    共著者名:松岡代志子、細川好則、日野雅之、辻 幸一
  • 全反射蛍光X線分析のためのグロー放電スパッタリングによる試料作製
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:J. Surf. Anal
    巻/号、頁:12巻303-307頁
    共著者名:中田 宗寛、辻 幸一
  • キノア種子のX線元素マッピングにおける自己吸収の影響の軽減
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:36巻267-274頁
    共著者名:江本哲也、小西洋太郎、X. Ding, 辻 幸一
  • Grazing-exit micro x-ray fluorescence analyses for chemical microchip
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:Anal. Sci.
    巻/号、頁:21巻799-803頁
    共著者名:K. Tsuji, T.Emoto, Y. Nishida, E. Tamaki, Y. Kikutani, A.Hibara, T. Kitamori
  • 蛍光X線分析における近年の要素技術の進歩と特殊な測定方法
    種別:解説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2005年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:36巻63-74頁
  • Micro-XRF Instrument Developed in Combination with Atomic Force Microscope
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:Advances in X-Ray Analysis.
    巻/号、頁:48巻221-228頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, and X. Ding
  • Micro X-ray Fluorescence Analysis at OCU
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:Physics Testing and Chemical Analysis, Part B Chemical Analysis
    巻/号、頁:141巻20頁
    共著者名:K. Tsuji,K. Nakano, X. Ding
  • Application of X-ray fluorescence analysis for chemical microchips
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:Proceedings of micro-TAS 2005 conference
    巻/号、頁:2巻991-993頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara, T. Ki
  • Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2004年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:33巻281-284頁
    共著者名:K. Tsuji, F. Delalieux
  • 反射板を利用した全反射蛍光X線分析の基礎検討
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:35巻193-200頁
  • Calculation of electron-induced x-ray intensities under grazing-exit conditions
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2003年
    出版社:e-Journal of. Surface and Nanotechnology
    巻/号、頁:1巻111-115頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Tetsuoka, F. Delalieux, S. Sato
  • Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis of light elements
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2004年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:33巻16-20頁
    共著者名:Z. Spolnik, K. Tsuji, R. Van Grieken
  • Feasibility study of 3 dimensional XRF spectrometry using micro-x-ray beam under grazing-exit conditions
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2003年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:58巻2233-2238頁
    共著者名:K. Tsuji and F. Delalieux
  • Development and applications of a grazing exit micro x-ray fluorescence (GE-micro-XRF) instrument using a polycapillary x-ray lens
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2004年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:59巻1291-1294頁
    共著者名:T. Emoto, Y. Sato, Y. Konishi, X. Ding, K. Tsuji
  • X線マイクロビームを用いるナノメーターレベルでの深さ方向分析
    単著・共著別:共著
    出版年月:2003年
    出版社:文部科学省 ナノテクノロジー総合支援プロジェクト Spring-8 研究成果報告書
    巻/号、頁:2003A巻2号151-152頁
    共著者名:辻 幸一、早川 慎二郎、張 利広、山根 一真、米谷 紀嗣、米澤 義朗
  • 斜出射X線測定型-微小部蛍光X線分析装置の開発
    単著・共著別:単著
    出版年月:2003年
    出版社:大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーフォーラム報告書
    巻/号、頁:2巻47-48頁
  • 微小部X線分析 -TXRF2003サテライト会議での話題を中心に-
    単著・共著別:共著
    出版年月:2004年
    出版社:理学電機ジャーナル
    巻/号、頁:35巻13-17頁
    共著者名:辻 幸一、早川 慎二郎
  • Fundamental Research of Grazing-Exit PIXE
    単著・共著別:共著
    出版年月:2004年
    出版社:Japan Atomic Energy Research Institute, TIARA annual report
    巻/号、頁:2004巻25号272-273頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Sakai, S. Yamamoto
  • 斜出射配置における電子線プローブマイクロアナリシス
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:日本電子NEWS
    巻/号、頁:36巻16-19頁
  • Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis (GE-EPMA)
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:JEOL NEWS
    巻/号、頁:39巻52-55頁
  • Micro-Trace X-ray Analysis - Development of Grazing-Exit-Micro X-Ray Fluorescence (GE-micro-XRF) in Combination with Atomic Force Microscope (AFM)-
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2004年
    出版社:The proceedings of the 12th Osaka City University, International Symposium
    巻/号、頁:2004巻137-142頁
  • 分析電子顕微鏡
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2005年
    出版社:「機器分析の事典」(朝倉書店)
    巻/号、頁:239-241頁
  • 蛍光X線法
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2007年
    出版社:表面物性工学ハンドブック第2版(丸善)
    巻/号、頁:184-188頁
  • Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis (GE-EPMA): Fundamental and applications (Review article)
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2005年
    出版社:Spectrochim. Acta, B
    巻/号、頁:60巻1381-3191頁
  • リング状グロー放電X線管の試作
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:大阪市立大学工作技術センターレポート"Fabrica"
    巻/号、頁:18号21-26頁
    共著者名:辻 慎一郎、廣瀬 由紀子、辻 幸一
  • 蛍光X線測定による非破壊的な深さ方向元素分析
    種別:解説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2006年
    出版社:放射線と産業
    巻/号、頁:112号14-19頁
  • Development of a New TXRFInstrument using Polycapillary X-ray Lens
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:112号14-19頁
    共著者名:K. Nakano, K. Tanaka, X. Ding, K. Tsuji
  • Time-Resolved μ-XRF and Elemental Mapping of Biological Materials
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:49巻296-301頁
    共著者名:K.Tsuji, K.Tsutsumimoto, K.Nakano, K.tanaka, A.Okhrimovskyy, Y.Konishi, and X.Ding
  • Development Plastic Certified Reference Material for XRF analysis (JSAC)containing Pb,Cd,Cr;Part1.Sample Preparation and Homogeneitytest
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:49巻375-378頁
    共著者名:K. Nakano, K. Tsuji, M. Kozaki, K. Kakita, A. Ono, T. Nakamura
  • Micro Total Reflection X-ray Fluorescence (Micro-TXRF) Analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:X-ray Spectrometry
    巻/号、頁:35巻375-378頁
    共著者名:K. Tsuji, M. Kawamata, Y. Nishida, K. Nakano, K. Sasaki
  • Investigation of Experimental Arrangements in X-ray Fluorescence Analysis Using Ultra-Thin Sample Carrier
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:Memoirs of the Faculty of Engineering Osaka City University
    巻/号、頁:47巻21-24頁
    共著者名:Andriy Okhrimovskyy, T. Moriyama, K. Tsuji
  • Theoretical characterization of reflector-assisted TXRF analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:e-Journal of. Surface Science and Nanotechnology
    巻/号、頁:4巻579-583頁
    共著者名:Andriy Okhrimovskyy, K. Saito, K. Tsuji
  • ニードル型コリメーターを用いた試料内部微小空間の蛍光X線分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:55巻681-687頁
    共著者名:松田晃典、辻 幸一
  • 共焦点型蛍光X線分析装置の開発と米試料の三次元分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:55巻427-432頁
    共著者名:中野 和彦, 辻 幸一
  • ポリキャピラリーX線レンズの基礎と応用
    種別:解説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2006年
    出版社:ぶんせき
    巻/号、頁:8号378-382頁
  • Numerical approach for depthprofiling with GE-XRF
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:35巻305-311頁
    共著者名:Andriy Okhrimovskyy, K. Tsuji
  • Total reflection X-ray fluorescence analysis with chemical microchip
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:61巻389-392頁
    共著者名:K. Tsuji, Y. Hanaoka, A. Hibara, M. Tokeshi, T. Kitamori
  • X-ray fluorescence analysis of soft materials using needle-type collimators enabling greater tolerance in analysis depth
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:61巻460-464頁
    共著者名:K. Tsuji, A. Matsuda, K. Nakano, A. Okhrimovskyy
  • Improvement of reproducibility in grazing-exit EPMA (GE-EPMA)
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:35巻89-92頁
    共著者名:T. Tetsuoka, T. Nagamura,K. Tsuji
  • 2005年X線分析関連文献総合報告
    種別:解説
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:X線分析の進歩,
    巻/号、頁:37巻25-44頁
    共著者名:河合潤、桜井健次、辻幸一、林久史、松尾修司、森良弘他
  • ポリキャピラリーX線レンズの特性評価
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:37巻289-300頁
    共著者名:田中 啓太、堤本 薫、荒井 正浩、辻 幸一
  • Time-resolved X-ray fluorescence for monitoring the intake of mineral nutrients in living plants
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:36巻324-327頁
    共著者名:K. Tsutsumimoto, K. Tsuji
  • 共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と微小部深さ方向分析への応用
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:28巻447-452頁
    共著者名:辻 幸一、野寺 雄太、中野 和彦
  • 境界領域から生まれる融合的な分析科学
    種別:解説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2007年
    出版社:ぶんせき(ロータリー、談話室)
    巻/号、頁:5巻255頁
  • 合金シードを用いためっきCu薄膜のキャラクタリゼーション
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:分析化学、
    巻/号、頁:56巻465-470頁
    共著者名:廣瀬幸範、本田和仁、前川和義、宮崎博史、辻幸一他
  • 固液界面用蛍光X線分析法の提案と化学めっき過程の観察
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:56巻499-504頁
    共著者名:堤本 薫, 辻 幸一
  • Development of Confocal 3D micro XRF Spectrometer with Cr-Mo Dual Excitation
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:36巻145-149頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano
  • Development of Confocal Micro-XRF Instrument using Two X-ray Beams
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:62巻549-553頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding
  • X-ray Technology
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2007年
    出版社:Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology, 5th ed.,ed. A. Seidel, John Wiley& Sons
    巻/号、頁:26巻411-444頁
  • 2006年X線分析関連文献総合報告
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:38巻67-88頁
    共著者名:桜井健次、辻幸一、中野和彦、林久史、松尾修司他
  • プラスチック試料からの溶出液中金属元素の全反射蛍光X線分析法
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:41巻185-193頁
    共著者名:川又 誠也, 今西 由紀子, 中野 和彦, 辻 幸一
  • Development of Laboratory Confocal 3D-XRF Spectrometer and Nondestructive Depth Profiling
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:J. Anal. At. Spectrom.
    巻/号、頁:25巻562-569頁
    共著者名:K. Nakano, K. Tsuji
  • Development of a transportable μ-XRF spectrometer with polycapillary half lens
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:39巻78-82頁
    共著者名:T. Yonehara, D. Orita, K. Nakano,S. Komatani, S. Ohzawa, A. Bando, H. Uchihara, K. Tsuji
  • X-ray fluorescence imaging with polycapillary X-ray optics
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:Spectrochim. Acta Part B
    巻/号、頁:65巻441-444頁
    共著者名:T. Yonehara, M. Yamaguchi, K. Tsuji
  • X-ray Spectrometry
    種別:総説
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:82巻4950-4987頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano, Y. Takahashi, K. Hayashi, C.-U. Ro
  • 走査型共焦点蛍光X線分析法による試料表面および表面近傍の三次元元素分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:31巻331-336頁
    共著者名:中野 和彦, 辻 幸一
  • Nondestructive elemental depth profiling of Japanese lacquerware Tamamushi-nuri by confocal 3D-XRF analysis in comparison with micro GE-XRF
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2009年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:38巻446-450頁
  • Effects of an X-ray absorber in grazing exit micro x-ray fluorescence analysis of arsenic attached to anaqueous leaf of Cammelia hiemalis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
    巻/号、頁:7巻841-846頁
    共著者名:T. Awane, K. Nakamachi, K. Tsuji,
  • Amicrox-ray fluorescence analysis method using polycapillary x-ray optics and grazing exit geometry
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:Thin Solid Films
    巻/号、頁:517巻3357-3361頁
    共著者名:J. Yang, K. Tsuji, X. Lin, D. Han, X. Ding,
  • 血液中金属元素の全反射蛍光X線分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:40巻249-257頁
    共著者名:中村 卓也, 松井 宏, 川又 誠也, 中野 和彦, 片山 貴子, 日野 雅之, 鰐渕 英機, 荒波 一史, 山田 隆, 辻 幸一
  • Grazing Exit Micro X-ray Fluorescence Analysis of Hazardous Metal Attached to a Plant Leaf Surface Using an X-ray Absorber Method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:81巻3356-3364頁
    共著者名:T. Awane, S.Fukuoka, K. Nakamachi, K. Tsuji
  • Fundamental characteristics of polycapillary x-ray optics combined with glass conical pinhole for micro x-ray fluorescence spectrometry
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:X-Ray Spectrom
    巻/号、頁:38巻258-262頁
    共著者名:A. Matsuda, K. Nakano, S. Komatani, S. Ohzawa, H. Uchihara, K. Tsuji
  • Preconcentration of environmental waters by agar for XRF analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:Powder Diffraction
    巻/号、頁:24巻135-139頁
    共著者名:K. Nakano, K. Okubo, K. Tsuji
  • X線発光分光
    種別:論文
    単著・共著別:単著
    出版年月:2008年
    出版社:分光研究
    巻/号、頁:57巻29-41頁
  • Application of confocal 3D micro XRF for solid/liquid interface analysis,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:Anal. Sci.
    巻/号、頁:24巻99-103頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Yonehara, K. Nakano
  • X-ray Energy Dependence of the Properties of the Focused Beams Produced by Polycapillary X-ray Lens
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:Anal.Sci.
    巻/号、頁:24巻843-846頁
    共著者名:A. Matsuda, Y. Nodera, K. Nakano, K. Tsuji
  • 粘着性テープを用いた蛍光X線分析用簡易サンプリング方法
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:39巻179-187頁
    共著者名:西田 洋介, 辻 幸一
  • X-Ray Spectrometry
    種別:総説
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:80巻4421-4454頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano, H. Hayashi, C. U. Ro,
  • 照射・検出同軸型の微小部XRFプローブの開発
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:39巻95-104頁
    共著者名:米原 翼, 辻 幸一
  • 2007年X線分析関連文献総合報告
    種別:総説
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:39巻27-46頁
    共著者名:石井 真史、栗崎 敏、高山 透、辻 幸一、沼子 千弥、林 久史、前尾 修司、松尾 修司、村松康司、森 良弘、横溝 臣智、渡部 孝
  • Development of a compact XRF probe using a ring-type secondary target
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:37巻503-507頁
    共著者名:T. Yonehara, K.Tsuji
  • Milling characteristics and distribution of phytic acid and zinc in rice kernels
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:Journal of Cereal Science
    巻/号、頁:48巻83-91頁
    共著者名:J. Liang, Z. Li, K. Tsuji, K. Nakano, M. J. R. Nout, R. J. Hamer
  • Micro and imaging x-ray analysis by using polycapillary x-ray optics
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:Proc. SPIE
    巻/号、頁:7077巻70770W-1-8頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Nakano, M. Yamaguchi, T. Yonehara
  • Improvement of spatial resolution of μ-XRF by using a thin metal filter
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:37巻642-645頁
    共著者名:K.Nakano, A. Matsuda, Y. Nodera, and K. Tsuji,
  • GE-MXRF analysis of multilayer films
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:X-Ray Spectrom.
    巻/号、頁:37巻625-628頁
    共著者名:J. Yang, K. Tsuji, D. Han, and X. Ding
  • 実験室における微小部蛍光X線分析の利用
    種別:著書
    単著・共著別:単著
    出版年月:2008年
    出版社:「ナノイメージング」、エヌ・テイー・エス
    巻/号、頁:305-320頁
  • 共焦点三次元蛍光X線分析
    種別:著書
    単著・共著別:共著
    出版年月:2008年
    出版社:「ナノイメージング」、エヌ・テイー・エス
    巻/号、頁:450-457頁
    共著者名:中野 和彦、辻 幸一
  • 全反射現象を利用した蛍光X線表面分析法
    種別:著書
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:「材料工学の先端実験技術」日本金属学会
    巻/号、頁:111-116頁
    共著者名:辻 幸一, 広川 吉之助
  • 斜出射X線測定型の電子線プローブマイクロアナリシス
    種別:総説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2001年
    出版社:X線分析の進歩(アグネ技術センター)
    巻/号、頁:32巻25-44頁
  • 斜出射X線測定による微小領域の表面分析と微粒子分析
    種別:総説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2000年
    出版社:まてりあ(最近の研究)
    巻/号、頁:39巻586-593頁
  • Surface Studies by Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis(GE-EPMA),
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2001年
    出版社:X-Ray Spectrometry, 30, 123-126 (2001).
    巻/号、頁:30巻123-126頁
    共著者名:K. Tsuji, Y. Murakami, K. Wagatsuma, G. Love
  • Grazing-Exit X-Ray Spectrometry for Surface and Thin-Film Analyses,
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2001年
    出版社:Anal. Sci.
    巻/号、頁:17巻145-148頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, S. Nagata, I. Satoh,
  • New experimental equipment for grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA)
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2001年
    出版社:Rev. Sci. Instrum.
    巻/号、頁:72巻3933-3936頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, and T. Ashino
  • Continuous x-ray background in grazing-exit electron probe x-ray microanalysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2001年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:56巻2497-2504頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma
  • 斜出射条件下でのEPMA
    単著・共著別:単著
    出版年月:2001年
    出版社:日本学術振興会製鋼第19委員会 製鋼計測化学研究会 予稿、19委-11935
    巻/号、頁:1-19頁
  • X線分析関連の3つの国際会議報告
    単著・共著別:単著
    出版年月:2002年
    出版社:ぶんせき
    巻/号、頁:2002巻533頁
  • 斜出射EPMA装置の試作と分析性能の評価
    単著・共著別:単著
    出版年月:2002年
    出版社:島津科学技術振興財団平成11年度最終報告書 (Annual Report of Shimadzu Science Foundation)
    巻/号、頁:28-32頁
  • Glancing-Incidence and Glancing-Takeoff X-Ray Fluorescence Analysis of Ni-GaAs Interface-Reactions
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2000年
    出版社:X-Ray Spectrometry
    巻/号、頁:29巻155-160頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma and T. Oku,
  • X-ray source combined ultrahigh-vacuum scanning tunneling microscopy for elemental analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2000年
    出版社:J. Vac. Sci. Tech. B.
    巻/号、頁:18巻2676-2680頁
    共著者名:Y. Hasegawa, K. Tsuji, K. Nakayama, K. Wagatsuma, T. Sakurai
  • Comparison of grazing-exit particle-induced X-ray emission with other related methods
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2000年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:55巻1009-1016頁
    共著者名:K. Tsuji, M. Huisman, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, Y. Mori, R. E. Van Grieken,R. D. Vis,
  • 斜出射EPMA装置の試作と分析性能の評価
    単著・共著別:単著
    出版年月:2000年
    出版社:島津科学技術振興財団平成11年度事業報告書(Annual Report of Shimadzu Science Foundation
    巻/号、頁:19頁
  • 元素の識別 -X線照射による元素分析型STMの試み-
    種別:総説
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Boundary
    巻/号、頁:1999巻8号10-13頁
    共著者名:辻 幸一、我妻 和明、杉山 和正、長谷川 幸雄
  • Preliminary experiment of total reflection x-ray fluorescence using two glancing x-ray beams excitation
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Rev. Sci. Instrum.
    巻/号、頁:70巻1621-1623頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Sato, K. Wagatsuma, M. Claes, and R. Van Grieken
  • Enhancement of X-ray fluorescence intensity from ultra-thin Ni layer sandwiched with carbon layers at grazing-emission angles
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:54巻1881-1888頁
    共著者名:K. Tsuji, H. Takenaka, K. Wagatsuma, P. K. de Bokx and R. E. Van Grieken
  • EXAFS- and XANES-like spectra obtained by x-ray excited scanning tunneling microscope tip current measurement
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Surf. Interface Anal.
    巻/号、頁:27巻132-135頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma, K. Sugiyama, K. Hiraga, Y. Waseda
  • Grazing-exit electron probe microanalysis for surface and particle analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:71巻2497-2501頁
    共著者名:K. Tsuji, K.Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken
  • Enhancement of electron-induced X-ray intensity for single particles under grazing-exit conditions
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Spectrochim. Acta B.
    巻/号、頁:54巻1243-1251頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik,K. Wagatsuma, J. Zhang, and R. Van Grieken
  • Grazing-exit particle-induced X-ray emission analysis with extremely low background
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Anal. Chem.
    巻/号、頁:71巻5033-5036頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. E. Van Grieken, R. D. Vis
  • Elemental X-ray images obtained by grazing-exit electron probe microanalysis(GE-EPMA)
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:J. Anal. At. Spectrom.
    巻/号、頁:14巻1711-1713頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken
  • 1st Workshop on Environmental AnalyticalArtefacts
    単著・共著別:単著
    出版年月:1999年
    出版社:ぶんせき
    巻/号、頁:1999巻435頁
  • EMAS'99 European Workshop
    単著・共著別:単著
    出版年月:1999年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:20巻495頁
  • ベルギーのマイクロアナリシス研究集団
    単著・共著別:単著
    出版年月:1999年
    出版社:まてりあ
    巻/号、頁:38巻652頁
  • Preliminary experiments on grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA)
    単著・共著別:共著
    出版年月:1999年
    出版社:Electron Microscopy and Analysis 1999, proceedings of EMAG conference
    巻/号、頁:161巻119-122頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken
  • X-ray fluorescence analysis by multiple-glancing x-ray beam excitation
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:37巻5821-5822頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Sato and K. Wagatsuma
  • Scanning tunneling microscope tip current excited by modulated x-rays
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:37巻2028-2032頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Nagamura, and K. Wagatsuma
  • Detection of x-ray induced current using a scanning tunneling microscopeand its spatial mapping for elemental analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:37巻L1271-L1273頁
    共著者名:K. Tsuji, Y. Hasegawa, K. Wagatsuma and T. Sakurai
  • 高電圧グロー放電からのX線放射
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:29巻223-232頁
    共著者名:辻 幸一, 松田 秀幸, 我妻 和明
  • Grimmglow discharge X-ray tube
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:53巻417-426頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Sato and K. Wagatsuma
  • X-ray measurement from the cathode surface of glow discharge tube used as a compact x-ray fluorescence instrument
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:53巻1669-1677頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma, S. Yamaguchi, S. Nagata, and K. Hirokawa,
  • Compact glow discharge x-ray tube
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1998年
    出版社:Rev. Sci. Instrum.
    巻/号、頁:69巻4006-4007頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Wagatsuma
  • 走査型プローブ顕微鏡による元素識別
    種別:総説
    単著・共著別:単著
    出版年月:1997年
    出版社:ぶんせき
    巻/号、頁:1997巻665頁
  • Takeoff angle-dependent x-ray fluorescence analysis of thin films on acrylicsubstrate
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Journal of Trace and Microprobe Techniques
    巻/号、頁:15巻1-11頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma and K. Hirokawa
  • Experimental evaluation of the Mo Kα x-ray penetration depth for a GaAs waferin a total reflection x-ray fluorescence analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Anal. Sci.
    巻/号、頁:13巻351-354頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma and K. Oku
  • Development of the glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:52巻841-846頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma, K. Hirokawa, T. Yamada, and T. Utaka
  • 全反射X線侵入深さの評価
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:18巻424-428頁
    共著者名:辻 幸一、我妻 和明
  • X線照射下でのSTM観察と探針電流の測定
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:28巻289-300頁
    共著者名:辻 幸一、我妻 和明
  • Optimum gaseous pressure for the measurement of the x-ray excited scanning tunneling microscope tip current
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:36巻1264-1267頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Wagatsuma
  • Characteristics of total reflection x-ray excited current detected with the tip of scanning tunneling microscope
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:52巻855-860頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma and K. Hirokawa
  • Fast electrons from Grimm glow discharge helium plasmas
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:36巻L446-L448頁
    共著者名:K. Tsuji, H. Matsuta and K. Wagatsuma
  • Characteristics of fast electrons from Grimm glow discharge He plasmas as an electron source
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:Spectrochim. Acta B
    巻/号、頁:52巻1587-1595頁
    共著者名:K. Tsuji, K. Wagatsuma and H. Matsuta
  • グリム型グロー放電プラズマからの高速電子放出現象とX線元素分析への応用
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1997年
    出版社:分析化学
    巻/号、頁:46巻863-867頁
    共著者名:辻 幸一, 我妻 和明, 松田 秀幸
  • 全反射現象を利用した蛍光X線表面分析法
    種別:総説
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:まてりあ (先端実験技術シリーズ)
    巻/号、頁:35巻1333-1338頁
    共著者名:辻 幸一、広川 吉之助
  • Evaluation of Ni/Mn multilayer samples with glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Appl. Phys. A
    巻/号、頁:62巻87-93頁
    共著者名:S. Sato, K. Tsuji, and K. Hirokawa
  • 斜入射・斜出射-蛍光X線分析法による表面反応の評価
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:17巻346-351頁
    共著者名:辻 幸一、広川 吉之助
  • Glancing-incidence and glancing-takeoff x-ray fluorescence analysis of a Mn ultrathin film on an Au layer
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Thin Solid Films
    巻/号、頁:274巻18-22頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa
  • Solid surface density determination using the glancing-takeoff x-ray fluorescence method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:35巻L1535-L1537頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Wagatsuma
  • Nondestructive depth profiling of oxidized Fe-Cr alloy by the glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Appl. Surf. Sci.
    巻/号、頁:103巻451-458頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • Glancing-incidence and takeoff x-ray fluorescence and scanning tunneling microscopy of thin films under x-ray irradiation
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Surf. Interface Anal.
    巻/号、頁:24巻286-289頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • STM装置を用いたX線励起電流の測定
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:17巻161-166頁
    共著者名:辻 幸一、広川 吉之助
  • Characteristics of an x-ray-excited current detected with an STM tip
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Rev. Sci. Instrum.
    巻/号、頁:67巻3573-3577頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • Nondestructive depth profiling by glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Mater. Trans. JIM
    巻/号、頁:37巻295-298頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa
  • Surface analysis of Fe-Cr alloy by glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1996年
    出版社:Mater. Trans. JIM
    巻/号、頁:37巻1033-1036頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • 斜入射条件下における取り出し角依存-蛍光X線分析法による真空蒸着薄膜および溶液滴下-乾燥薄膜の分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1995年
    出版社:X線分析の進歩
    巻/号、頁:26巻59-74頁
    共著者名:辻 幸一、水戸瀬賢悟、広川 吉之助
  • The effects of surface roughness on the angle-dependent total-reflection x-ray fluorescence of ultrathin films
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1995年
    出版社:J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:78巻969-973頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Yamada, T. Utaka, and K. Hirokawa
  • Depth profiling using the glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence method
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1995年
    出版社:Rev. Sci. Instrum.
    巻/号、頁:66巻4847-4852頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Sato,and K. Hirokawa
  • X-ray excited current detected with scanning tunneling microscope equipment
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1995年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:34巻L1506-L1508頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • X-ray fluorescence analysis of thin films at glancing-incident and -takeoff angles
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1995年
    出版社:Advances in X-Ray Chemical Analysis, JAPAN
    巻/号、頁:26s巻151-156頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa
  • Takeoff angle-dependentx-ray fluorescence of layered materials using a glancing incident x-ray beam
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1994年
    出版社:J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:75巻7189-7194頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • Characterization of Au thin film by Glancing-Incidence and -Takeoff X-Ray Fluorescence Spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1994年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:33巻L1277-L1279頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa
  • Effect of surface roughness on takeoff-angle-dependent x-ray fluorescence of ultrathin films at glancing incidence
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1994年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:33巻6316-6319頁
    共著者名:K. Tsuji, A. Sasaki, and K. Hirokawa
  • Surface-sensitive x-ray fluorescence analysis at glancing incident and takeoff angles
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1994年
    出版社:J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:76巻7860-7863頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa
  • 斜入射・斜出射-蛍光X線分析法による表面・薄膜分析
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1994年
    出版社:表面科学
    巻/号、頁:15巻668-674頁
    共著者名:辻 幸一、佐藤 成男、広川 吉之助
  • 蛍光X線分析法による薄膜材料の新しい分析・評価法
    種別:総説
    単著・共著別:単著
    出版年月:1993年
    出版社:日本金属学会会報
    巻/号、頁:32巻180頁
  • Take-off angle-dependent x-ray fluorescence of thin films at glancing incidence
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1993年
    出版社:Spectrochim. Acta. B
    巻/号、頁:48巻1471-1480頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • Estimation of chemical sputtering rates of carbon in He-H2 glow discharge plasmas by optical emission spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1993年
    出版社:Jpn. J. Appl. Phys.
    巻/号、頁:32巻916-920頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • Studies on carbon deposition in Ar-CH4 plasmas with optical emission spectroscopy and x-ray photoelectron spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1992年
    出版社:Appl. Surf. Sci.
    巻/号、頁:59巻31-37頁
    共著者名:K.Tsuji and K. Hirokawa
  • Studies on chemical sputtering of Si and C in Ar-H2 glow discharge plasma by optical emission spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1991年
    出版社:Thin Solid Films
    巻/号、頁:205巻6-12頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • グロー放電成膜現象の発光スペクトルによる評価
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1991年
    出版社:日本化学会誌
    巻/号、頁:1991巻1379-1385頁
    共著者名:辻 幸一、広川 吉之助
  • Depth profiling studies of oxidized alloy surfaces by glow discharge emission spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1990年
    出版社:Surf. Interface. Anal.
    巻/号、頁:15巻223-228頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa
  • Experimental parameters for XRF analysis of soils
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2010年
    出版社:Advances in X-ray Analysis
    巻/号、頁:53巻248-255頁
    共著者名:Y. Imanishi, A. Bando, S. Komatani, S. Wada, K. Tsuji
  • 共焦点型3D蛍光X線分析装置による実験室での3D元素マッピング
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2007年
    出版社:まてりあ
    巻/号、頁:46巻12号833頁
    共著者名:辻 幸一、中野 和彦
  • 玩具の表面から溶出する微量な重金属をモニターする
    単著・共著別:共著
    出版年月:2009年
    出版社:第70回分析化学討論会 展望とトピックス
    巻/号、頁:8頁
    共著者名:川又 誠也、中野 和彦、辻 幸一
  • 分析装置の解体
    単著・共著別:単著
    出版年月:2007年
    出版社:日産アークMONTHLY
    巻/号、頁:16巻10号3頁
  • コメ一粒における3次元の元素分布を可視化する
    単著・共著別:共著
    出版年月:2006年
    出版社:第67回分析化学討論会、展望とトピックス
    巻/号、頁:23頁
    共著者名:中野 和彦、 辻 幸一
  • Spring8 User Experiment Report
    単著・共著別:共著
    出版年月:2003年
    出版社:Spring8 User Experiment Report
    巻/号、頁:11巻2003A号179頁
    共著者名:K. Tsuji, S. Hayakawa, T. Hari, K. Yamane, N. Kometani, Y. Yonezawa
  • Micro-XRF Instrument Developedin Combination with Atomic Force Microscope
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2005年
    出版社:Advances in X-Ray Analysis
    巻/号、頁:48巻221-228頁
    共著者名:K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, and X. Ding
  • 斜出射X線分析のEPMAへの応用
    種別:解説
    単著・共著別:単著
    出版年月:2002年
    出版社:日本電子(株)EPMA・表面分析ユーザーズミーティング解説書
    巻/号、頁:2002巻
  • Characterization of thin-films at small region by grazing-exit electron probe microanalysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:Mater. Trans. JIM.
    巻/号、頁:43巻414-416頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, K. Saito, K. Asami
  • Material analysis methods applied to the study of ancient monuments, works of art and artefacts
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2002年
    出版社:Mater. Trans.
    巻/号、頁:43巻2197-2200頁
    共著者名:F. Delalieux, K. Tsuji, K. Wagatsuma, R. Van Grieken
  • Detection limit of grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA) for particles analysis
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:2000年
    出版社:Mikrochim. Acta
    巻/号、頁:132巻357-360頁
    共著者名:K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken
  • Conversion ofsputtering time into depth in depth profiles of oxidized Cu-Ni alloys obtained by glow discharge spectroscopy
    種別:論文
    単著・共著別:共著
    出版年月:1991年
    出版社:Surf. Interface. Anal.
    巻/号、頁:17巻819-822頁
    共著者名:K. Tsuji and K. Hirokawa

研究費獲得実績

科研費補助金獲得実績

  • 研究課題名:蛍光X線高速元素イメージング分光器の開発
    研究種目:基盤研究B
    代表者区分:代表者
    申請年度:2013年
    研究期間:2014年04月~2017年03月
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 8400(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 2520(千円)
  • 研究課題名:高性能3次元蛍光X線分析装置の開発と鑑識科学への応用
    研究種目:基盤研究B
    代表者区分:代表者
    申請年度:2010年
    研究期間:2011年~2013年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 8600(千円)
    2年目 4300(千円)
    3年目 2100(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 2580(千円)
  • 研究課題名:固液界面反応の微小部蛍光エックス線直接分析
    研究種目:基盤研究B
    代表者区分:代表者
    申請年度:2006年
    研究期間:2007年~2009年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 8400(千円)
    2年目 3200(千円)
    3年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 2520(千円)
    2年目 960(千円)
    3年目 600(千円)
  • 研究課題名:ナノテクノロジーと超微量分析のための新しいグロー放電デバイスの設計と開発
    研究種目:特別研究員奨励費
    代表者区分:代表者
    申請年度:2003年
    研究期間:2004年~2005年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2400(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:キャピラリーグロー放電発光分析による水素吸蔵合金中の3次元分布解析
    研究種目:萌芽研究
    代表者区分:代表者
    申請年度:2002年
    研究期間:2003年~2004年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 3500(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:3次元X線分析顕微鏡の開発と実環境下でのマイクロ~ナノ解析
    研究種目:基盤研究B
    代表者区分:代表者
    申請年度:2002年
    研究期間:2003年~2004年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 15100(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:X線誘起トンネル電流による走査トンネル顕微鏡での元素分析(元素分析STMの開発)
    研究種目:基盤研究 A
    代表者区分:分担者
    申請年度:1999年
    研究期間:2000年~2001年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 41700(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:斜出射測定型-微小領域X線分析装置の試作とエアロゾル等の単1粒子分析
    研究種目:基盤研究 B
    代表者区分:代表者
    申請年度:1999年
    研究期間:2000年~2002年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 13700(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:溶出波法と表面分析法の組み合わせによる超高純度ベースメタル中の不純物分析法の開発
    研究種目:基盤研究 C
    代表者区分:分担者
    申請年度:1998年
    研究期間:1999年~2000年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 3500(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:2波長X線ビーム励起-全反射蛍光X線分析装置の開発とその分析性能の評価
    研究種目:基盤研究 C
    代表者区分:代表者
    申請年度:1998年
    研究期間:1999年~2000年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 3700(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:斜入射X線照射下-プラズマプロセスの可視・紫外・X線分光によるその場解析
    研究種目:奨励研究A
    代表者区分:代表者
    申請年度:1996年
    研究期間:1997年~1998年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2500(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:極最表面分析を目的とした斜入射・斜出射蛍光X線分析装置の開発
    研究種目:基盤研究A
    代表者区分:代表者
    申請年度:1994年
    研究期間:1995年~1996年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 11600(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 o(千円)
  • 研究課題名:全反射X線励起-走査型探針分光法の開発とその1原子分析への応用
    研究種目:一般研究 B
    代表者区分:分担者
    申請年度:1993年
    研究期間:1994年~1995年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 7400(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:斜入射・斜出射蛍光X線分析法による化学気相成長プロセスのその場測定
    研究種目:一般研究 C
    代表者区分:代表者
    申請年度:1993年
    研究期間:1994年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 研究課題名:蛍光X線強度の取り出し角分布測定による金属薄膜ならびに基板界面の非破壊分析
    研究種目:奨励研究A
    代表者区分:代表者
    申請年度:1992年
    研究期間:1993年
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 900(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)

競争的研究資金獲得実績

  • 名称:第25回鉄鋼研究振興助成
    研究課題名:3次元蛍光X線元素分布解析による鉄鋼材料の応力付加腐食進行過程の可視化研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2016年04月~2018年03月
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:平成28年度大阪市イノベーション創出支援補助金
    研究課題名:塗膜下鋼板腐食の非破壊元素イメージング
    代表者区分:代表者
    研究期間:2016年06月~2017年02月
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 837(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:平成27年度JSTマッチングプランナー「探索試験」
    研究課題名:水溶液中金属腐食のその場解析可能性の検証
    代表者区分:代表者
    研究期間:2015年10月~2016年09月
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2255(千円)
    2年目 1650(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 205(千円)
    2年目 150(千円)
  • 名称:日本学術振興会 二国間交流事業(日本ーオーストリア)
    研究課題名:鑑識試料中の軽元素の共焦点蛍光X線分析に関する共同研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2011年~2012年
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2500(千円)
    2年目 2500(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:JST研究成果最適展開支援事業(A-STEP、本格研究)
    研究課題名:X線用2次元分光素子の開発とX線化学イメージングへの応用
    代表者区分:分担者
    研究期間:2009年~2011年
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 5350(千円)
    2年目 1650(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 486(千円)
    2年目 150(千円)
  • 名称:科学技術振興機構 地域イノベーション創出総合支援事業重点地域研究開発推進プログラム 育成研究
    研究課題名:高空間分解能蛍光X線分析装置の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2007年~2010年
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 37000(千円)
    2年目 28000(千円)
    3年目 25000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
    2年目 0(千円)
    3年目 0(千円)
  • 名称:科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 個人研究型(さきがけ)研究
    研究課題名:高感度3次元蛍光X線分析装置の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2004年~2007年
    形態:JST兼任
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 10700(千円)
    2年目 16500(千円)
    3年目 7000(千円)
    4年目 3000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 750(千円)
    2年目 1500(千円)
    3年目 1500(千円)
    4年目 750(千円)
  • 名称:科学技術振興機構 地域イノベーション創出総合支援事業重点地域研究開発推進プログラム 「シーズ発掘試験」
    研究課題名:小型高感度蛍光X線分析計をマイクロ化学チップの検出部とするシステムの構築
    代表者区分:代表者
    研究期間:2006年
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:科学技術振興機構 研究成果活用プラザ大阪 実用化のための可能性試験(FS)
    研究課題名:注射針様コリメーターを利用した水溶液と固/液界面の蛍光X線分析
    代表者区分:代表者
    研究期間:2006年
    形態:受託研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)

その他研究資金獲得実績

  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析を活用した薄鋼板腐食挙動の非破壊分析検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2016年04月~2017年03月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 972(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 108(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析を活用した薄鋼板腐食挙動の非破壊分析検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2015年04月~2016年03月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 972(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 108(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析を活用した薄鋼板塗膜下腐食挙動の非破壊分析検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2014年04月~2015年03月
    形態:共同研究
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 972(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 108(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析を活用した薄鋼板腐食挙動の非破壊分析基礎検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2013年10月~2014年03月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析を活用した薄鋼板塗膜下腐食の非破壊分析基礎検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2012年07月~2013年03月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析による固液界面反応解析技術実用化に関する研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2012年10月~2013年03月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:奨励寄附金
    研究課題名:「鋼中非金属介在物粒子の多面的評価」の研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2012年04月~2013年03月
    形態:教育研究奨励寄附
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 550(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:携帯型高感度蛍光X線分析装置の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2012年06月~2013年06月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2250(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 250(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:CO2環境下での鉄鋼材料の腐食挙動その場観察に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2011年10月~2012年06月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析を活用した薄鋼板塗膜下腐食の非破壊分析基礎検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2011年10月~2012年03月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析による鉄鋼材料表層のその場解析に関する研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2011年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:奨励寄付金
    研究課題名:「鋼中非金属介在物粒子の多面的評価」の研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2011年
    形態:教育研究奨励寄附
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 600(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:日本鉄鋼協会鉄鋼研究振興助成
    研究課題名:軽元素対応型高空間分解能3次元蛍光X線分析装置の開発と材料解析への応用
    代表者区分:代表者
    研究期間:2011年~2012年
    形態:教育研究奨励寄附
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:奨励寄付金
    研究課題名:鋼中非金属介在物粒子の多面的評価
    代表者区分:代表者
    研究期間:2010年
    形態:教育研究奨励寄附
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 600(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:新産業創生研究
    研究課題名:低真空下での軽元素対応型-3次元蛍光X線分析装置の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2010年
    形態:学内研究費
    資金区分:学内研究資金
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:CO2環境下での鉄鋼材料の腐食挙動その場観察に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2010年~2011年06月
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 945(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 105(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析による鉄鋼材料表面のその場解析に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2009年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1500(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:CO2環境下での鉄鋼材料の腐食挙動その場観察に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2009年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析による溶液中の鉄鋼試料表面のその場解析に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2008年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:日本鉄鋼協会鉄鋼研究振興助成
    研究課題名:小型蛍光X線プローブの開発と水溶液中での金属腐食過程のその場解析
    代表者区分:代表者
    研究期間:2008年~2009年
    形態:教育研究奨励寄附
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析による溶液中の鉄鋼試料表面のその場解析に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2008年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究
    研究課題名:蛍光X線分析による固液界面反応解析に関する基礎研究
    代表者区分:代表者
    研究期間:2007年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:奨励寄付金
    研究課題名:共焦点蛍光X線分析技術による3次元元素分析の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2007年
    形態:教育研究奨励寄附
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 500(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究費
    研究課題名:蛍光X線による溶液中の固体表面分析に関する基礎検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2006年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:新産業創生研究
    研究課題名:医療診断に向けた血液中微量元素の迅速定量分析法の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2006年
    形態:学内研究費
    資金区分:学内研究資金
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1460(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:共同研究費
    研究課題名:X線を用いた迅速微量分析法の確立に関する基礎検討
    代表者区分:代表者
    研究期間:2005年
    形態:共同研究
    資金区分:民間企業・財団等
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 1000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:新産業創生研究
    研究課題名:X線分析機能を有する走査プローブ顕微鏡の開発
    代表者区分:代表者
    研究期間:2005年
    形態:学内研究費
    資金区分:学内研究資金
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2800(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)
  • 名称:大阪市立大学特定研究奨励費
    研究課題名:元素識別型走査プローブ顕微鏡の開発とナノサイエンスへの応用
    代表者区分:代表者
    研究期間:2003年
    形態:学内研究費
    資金区分:学内研究資金
    獲得金額【直接経費】:
    1年目 2000(千円)
    獲得金額【間接経費】:
    1年目 0(千円)

学会活動

所属学会

  • 学会名:日本分析化学会X線分析研究懇談会
    2005年~ 運営委員
    2015年~ 委員長
  • 学会名:日本分析化学会
    2003年~ 日本分析化学会近畿支部幹事
    2004年~2007年 近畿支部常任幹事
    2009年04月~2012年03月 日本分析化学会代議員
    2010年04月~2012年03月 近畿支部庶務幹事
    2012年~ 近畿支部副支部長
    2012年~2013年 第62年会実行委員
    2014年~ 「ぶんせき」講習会委員長
    2014年04月~2016年03月 日本分析化学会代議員
  • 学会名:日本鉄鋼協会
    2003年~ 評価・分析・解析部会委員
    2012年04月~ 関西分析研究会委員長
  • 学会名:日本金属学会
    2008年04月~2012年03月 評議員
  • 学会名:日本表面科学会
    2007年~2009年 関西支部役員
  • 学会名:日本化学会
    2010年04月~2012年03月 代議員
  • 学会名:日本分光学会
    2012年04月~2014年03月 「分光研究」編集委員
  • 学会名:日本法科学技術学会
  • 学会名:European Microbeam Analysis Society (EMAS)
  • 学会名:Institute of Physics (IOP)

学会等における発表

  • (Invited) Kouichi Tsuji, Co-Chair of Session 2-8: X-ray Spectroscopy
    発表年月:2017年03月
    発表会議名:AnalytiX-2017
    学会発表区分:Japan
  • Kouichi Tsuji, Shota Aida, Yuki Takimoto, EDXRF and WDXRF imaging techniques in the laboratory(oral).
    発表年月:2017年03月
    発表会議名:AnalytiX-2017
    学会発表区分:Japan
  • 山内 葵、辻 幸一「XPSにおけるX線銃からの連続X線による影響」(ポスター)
    発表年月:2017年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第173回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 三田 昇平、河原 直樹、辻 幸一「単色励起の共焦点蛍光X線分析装置の開発とその性能評価」(ポスター)
    発表年月:2017年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第173回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「実験室における蛍光X線元素イメージング」(口頭)
    発表年月:2017年01月
    発表会議名:独立行政法人日本学術振興会 製鋼第19委員会
    学会発表区分:国内
  • 田原 和佳、辻 幸一「コークス内部の共焦点型微小部蛍光X線分析による元素分布解析」(口頭)
    発表年月:2017年01月
    発表会議名:関西分析研究会平成28年度第2回例会
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「蛍光X線イメージングによる固液界面近傍における元素分布解析」
    発表年月:2016年11月
    発表会議名:大阪ニュークリアサイセンス協会平成28年度第2回見学会
    学会発表区分:国内
  • 細見 凌平、辻 幸一「共焦点型微小部蛍光X線分析法による鋼板の微生物腐食その場観察」(ポスター)
    発表年月:2016年10月
    発表会議名:第52回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 会田 翔太、辻 幸一「WD-XRFイメージングによる化学反応過程の元素モニタリング」(口頭)
    発表年月:2016年10月
    発表会議名:第52回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 瀧本 雄毅、Francesco Paolo Romano、辻 幸一「全視野型EDXRFイメージング装置の開発と特性評価」(ポスター)
    発表年月:2016年10月
    発表会議名:第52回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 河原 直樹、松野 剛士、細見 凌平、辻 幸一「不均質試料の共焦点微小部XRF分析における定量的データ解析」(ポスター)
    発表年月:2016年10月
    発表会議名:第52回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)Kouichi Tsuji, Shota Aida, Yuki Takimoto, XRF imaging based on polycapillary optics
    発表年月:2016年09月
    発表会議名:The 7th International Conference Channeling 2016 - Charged & Neutral Particles Channeling Phenomena
    学会発表区分:Italy
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「X線反射率測定法(XRR)および全反射蛍光X線分光法(TXRF)の国際標準化」
    発表年月:2016年09月
    発表会議名:JASISコンファレンス JSCA表面化学分析技術国際標準化セミナー「表面分析・マイクロビームアナリシスにおける国際標準化の動向」
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「特別シンポジウム講演:蛍光X線イメージングによる固液界面近傍における元素分布の可視化」
    発表年月:2016年09月
    発表会議名:日本分析化学会第65年会
    学会発表区分:国内
  • 蓬田 直也、辻 幸一「共焦点型微小部蛍光X線分析法を用いた毛髪中の元素分布解析」(ポスター)
    発表年月:2016年09月
    発表会議名:日本分析化学会第65年会
    学会発表区分:国内
  • 蓬田 直也、辻 幸一「紅茶の全反射蛍光X線分析のための試料準備法の検討」(口頭)
    発表年月:2016年09月
    発表会議名:日本分析化学会第65年会
    学会発表区分:国内
  • K. Tsuji, Workshop Instructor on “ Trace Analysis”
    発表年月:2016年08月
    発表会議名:65th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • K. Tsuji, Y. Takimoto, M. Yamanashi, S. Kato, T. Yamada, T. Shoji, N. Kawahara, Comparison of Wavelength-Dispersive and Energy-Dispersive XRF Imaging Methods (oral).
    発表年月:2016年08月
    発表会議名:65th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • N. Kawahara, T. Matsuno, K. Tsuji, Calculation of Fluorescent X-ray Intensity for Confocal Micro-XRF Analysis of Inhomogeneous Samples (poster).
    発表年月:2016年08月
    発表会議名:65th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • 蓬田 直也、辻 幸一「共焦点型微小部蛍光X線分析法による毛髪中の元素解析」(ポスター)
    発表年月:2016年07月
    発表会議名:日本分析化学会近畿支部第10回平成夏季セミナー
    学会発表区分:国内
  • 細見 凌平、辻 幸一「廃油中金属元素の全反射蛍光X線分析」 (ポスター)
    発表年月:2016年07月
    発表会議名:日本分析化学会近畿支部第10回平成夏季セミナー
    学会発表区分:国内
  • 会田 翔太、辻 幸一「蛍光X線元素イメージングへの主成分分析の適用」(ポスター)
    発表年月:2016年07月
    発表会議名:日本分析化学会近畿支部 第10回平成夏季セミナー
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2016年07月
    発表会議名:第20回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際(第9回)― 機能性材料、地球環境試料、食品、文化財の簡易迅速分析法
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「共焦点微小部蛍光X線分析法による深さ選択的元素イメージング」(ポスター)
    発表年月:2016年07月
    発表会議名:第20回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際(第9回)― 機能性材料、地球環境試料、食品、文化財の簡易迅速分析法
    学会発表区分:国内
  • Laura Borgese, Fabjola Bilo, Annalisa Zacco, Diane Eichert, Werner Jark, Kouichi Tsuji, Elza Bontempi and Laura Eleonora Depero, Chemical analysis of airborne particulate matter collected on filters prepared by SMART STORE™ by means of X-Ray Fluorescence based techniques (oral).
    発表年月:2016年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2016)
    学会発表区分:Sweden
  • Ryohei Hosomi, Yuri Tabuchi and Kouichi Tsuji, Sample preparation for TXRF analysis of teas (oral).
    発表年月:2016年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2016)
    学会発表区分:Sweden
  • Shota Aida, Masaki Yamanashi, Yuki Takimoto, Yuta Kitado, Francesco Paolo Romano, Koen Janssens and Kouichi Tsuji, WD- and ED-XRF imaging techniques for industrial and painting samples(poster).
    発表年月:2016年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2016)
    学会発表区分:Sweden
  • Ryohei Hosomi and Kouichi Tsuji, Sample preparation for TXRF analysis of metal particles in used machine oil (poster).
    発表年月:2016年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2016)
    学会発表区分:Sweden
  • Shota Aida, Takeshi Hasegawa and Kouichi Tsuji, Preliminary research on PCA for micro XRF imaging (poster).
    発表年月:2016年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2016)
    学会発表区分:Sweden
  • Kouichi Tsuji, Yuki Takimoto, Tsuyoshi Matsuno, Naoki Kawahara and Jigi Chin, Confocal micro-XRF imaging and WD- XRF imaging for monitoring of chemical reactions in solutions (oral).
    発表年月:2016年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2016)
    学会発表区分:Sweden
  • 瀧本 雄毅、山梨 眞生、辻 幸一「全視野型蛍光X線イメージングによる大面積試料に対する元素分布情報の取得」(口頭)
    発表年月:2016年05月
    発表会議名:第76回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 松野 剛士、秋岡 幸司、土井 教史、長谷川 健、辻 幸一「塩水に浸漬した鋼板試料の腐食挙動のその場蛍光X線イメージングおよび主成分分析の適用」(口頭)
    発表年月:2016年05月
    発表会議名:第76回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、松野 剛士、瀧本 雄毅、山梨 眞生「蛍光X線分析による微量分析と元素イメージングおよび法科学試料への適用可能性」(口頭)
    発表年月:2016年05月
    発表会議名:第76回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 蓬田 直也、北戸 雄大、辻 幸一「層構造を有する材料の共焦点3次元蛍光 X線分析」(ポスター)
    発表年月:2016年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第171回春季講演大会
  • 細見 凌平、辻 幸一「廃油中金属元素の全反射蛍光X線分析」(ポスター)
    発表年月:2016年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第171回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 会田 翔太、辻 幸一「微小部蛍光X線分析法における主成分分析の適用」(ポスター)
    発表年月:2016年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第171回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 陳 自義、辻 幸一「水溶液中金属腐食の3DXRF 法によるその場観察」(口頭) 
    発表年月:2016年01月
    発表会議名:関西分析研究会平成28年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「蛍光X線イメージングに関する研究」 (口頭)
    発表年月:2015年11月
    発表会議名:第4回構造機能と計測分析「さきがけその後」研究会
    学会発表区分:国内
  • 河原 直樹、松野 剛士、辻 幸一「共焦点型微小部蛍光X線分析におけるX線理論強度計算」 (ポスター)
    発表年月:2015年10月
    発表会議名:第51回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 蓬田 直也、松野 剛士、北戸 雄大、辻 幸一「毛髪および工芸品の共焦点3次元蛍光X線分析」 (ポスター)
    発表年月:2015年10月
    発表会議名:第51回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 細見 凌平、田渕 由莉、辻 幸一「廃油中金属元素の全反射蛍光X線分析」 (ポスター)
    発表年月:2015年10月
    発表会議名:第51回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松野 剛士、会田 翔太、北戸 雄大、長谷川 健、辻 幸一「走査型蛍光X線元素イメージングにおける主成分分析法の適用可能性」 (口頭)
    発表年月:2015年10月
    発表会議名:第51回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 瀧本 雄毅、西本 裕昭、加藤 秀一、庄司 孝、Paolo Romano、辻 幸一「いくつかの蛍光X線元素イメージング法の比較」(口頭)
    発表年月:2015年10月
    発表会議名:第51回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, ED and WD XRF imaging
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:Chinese conference of X-ray Spectrometry
    学会発表区分:China
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, XRF imaging –scanning & projection techniques-
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:Chinese conference of X-ray Spectrometry
    学会発表区分:China
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, TXRF standardization
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:Chinese conference of X-ray Spectrometry
    学会発表区分:China
  • J. Chin and K. Tsuji, Confocal micro XRF analysis for monitoring corrosion of steel sheet in the solution (oral).
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:Chinese conference of X-ray Spectrometry
    学会発表区分:China
  • Yuki Takimoto, Masaki Yamanashi, Shuichi Kato, Takashi Shoji, Kouichi Tsuji, Fast elemental imaging by WD-XRF spectrometer (poster).
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:RSC Tokyo International Conference 2017, International Conference Session, JASIS Conference
    学会発表区分:Japan
  • Shota Aida, Tsuyoshi Matsuno, Takeshi Hasegawa, Kouichi Tsuji, Application of PCA for X-ray Fluorescence Mapping (poster).
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:RSC Tokyo International Conference 2016, International Conference Session, JASIS Conference
    学会発表区分:Japan
  • Ryohei Hosomi, Yuri Tabuchi, Kouichi Tsuji, Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis of Metal Particles in Used Machine Oil (poster).
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:RSC Tokyo International Conference 2015, International Conference Session, JASIS Conference
    学会発表区分:Japan
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「X線反射率測定法(XRR)および全反射蛍光X線分光法(TXRF)の国際標準化」
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:JASISコンファレンス JSCA表面化学分析技術国際標準化セミナー「表面分析・マイクロビームアナリシスにおける国際標準化の動向」
    学会発表区分:国内
  • 北戸 雄大、辻 幸一「玉虫塗試料など工芸品の共焦点型蛍光X線分析」(口頭)
    発表年月:2015年09月
    発表会議名:日本分析化学会第64年会
    学会発表区分:国内
  • Y. Takimoto, M. Yamanashi, S. Kato, T. Shoji, and K. Tsuji, WD-XRF Imaging with Polycapillary Optics under Glancing Incidence Geometry (poster).
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:16th TXRF
    学会発表区分:USA
  • Y. Tabuchi and K. Tsuji, TXRF Intensity of Dried Residue and Its Position on Glass Substrate (oral).
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:16th TXRF
    学会発表区分:USA
  • T. Matsuno, Y. Tabuchi, and K. Tsuji, TXRF Analysis of Metal Particles in Used Machine Oils and Feasibility Research for Application of Principal Component Analysis (oral).
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:16th TXRF
    学会発表区分:USA
  • T. Matsuno, Y. Kitado, M. Yamanashi, T. Hasegawa, and K. Tsuji, Improvement of Spatial Resolution of Confocal Micro-XRF Images Using Principal Component Analysis (poster).
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • K. Tsuji, T. Matsuno, Y. Takimoto, and N. Kawahara, Secondary Excitation Observed in Lateral Scan Using Confocal Micro-XRF (poster).
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • Y. Takimoto, M. Yamanashi, S. Kato, T. Shoji, and K. Tsuji, WD-XRF Imaging with Polycapillary Optics under Glancing Incidence Geometry (poster).
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待依頼講演) K. Tsuji, Workshop organizer and Instructor on “ TXRF Standardization”, 64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:Denver X-ray Conference & 16th TXRF
    学会発表区分:USA
  • (招待依頼講演) K. Tsuji, Confocal micro-XRF Analysis for Monitoring Chemical Reactions, in “Micro-XRF session”
    発表年月:2015年08月
    発表会議名:64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • Kouichi Tsuji, Kazuhiko Nakano, Masaki Yamanashi, Ryota Yagi, Shuichi Kato, Naoki Kawahara, Takashi Yamada , and Takashi Shoji, Micro-XRF imaging and WD-XRF imaging (oral)
    発表年月:2015年04月
    発表会議名:Technart2015
    学会発表区分:Italy
  • 田渕 由莉、辻 幸一「水試料の全反射蛍光X線分析に関する国際ラウンドロビンテスト」)(ポスター)
    発表年月:2015年05月
    発表会議名:第75回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 陳 自義、秋岡 幸司、荒井 正浩、土井 教史、辻 幸一「鋼板塗膜下腐食試料の共焦点型三次元蛍光X線元素イメージング」(ポスター)
    発表年月:2015年05月
    発表会議名:第75回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 陳 自義、秋岡 幸司、荒井 正浩、土井 教史、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析法による水溶液中塗膜鋼板の腐食挙動その場観察」 (口頭)
    発表年月:2015年05月
    発表会議名:第75回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 田渕 由莉、辻 幸一「全反射蛍光X線分析における試料作製位置と検出感度の依存性に関する研究」(口頭)
    発表年月:2015年05月
    発表会議名:第75回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 八木 良太、辻 幸一、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩「共焦点型蛍光X線分析法による鋼板塗膜下腐食試料の深さ方向元素イメージング」(口頭)
    発表年月:2015年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第169回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、久保川 利明、八木 良太、清水 健一「グロー放電スパッタリングを併用した金属中介在物のSEM-EDS解析」 (口頭)
    発表年月:2015年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第169回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 瀧本 雄毅、辻 幸一「小型波長分散型蛍光X線イメージング装置の開発」 (ポスター)
    発表年月:2015年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第169回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 松野 剛士、辻 幸一 「共焦点三次元蛍光X線分析法におけるマトリクス効果の検証」 (ポスター)
    発表年月:2015年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第169回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 八木 良太、秋岡 幸司、荒井 正浩、土井 教史、辻 幸一「共焦点型蛍光X線分析法による鉄鋼材料腐食挙動の解析」(ポスター)
    発表年月:2014年10月
    発表会議名:第50回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 北戸 雄大、秋岡 幸司、荒井 正浩、土井 教史、辻 幸一「共焦点型蛍光X線分析法による置換めっきのモニタリング」)(ポスター)
    発表年月:2014年10月
    発表会議名:第50回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 田渕 由莉、清水 雄一郎、山田 隆、辻 幸一「飲料水中ハロゲンの全反射蛍光X線分析による定量法の検討」(ポスター)
    発表年月:2014年10月
    発表会議名:第50回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 山梨 眞生、瀧本 雄毅、加藤 秀一、山田 隆、庄司 孝、辻 幸一「高感度2次元半導体検出器を用いた波長分散型XRFイメージング装置の性能評価」(口頭)
    発表年月:2014年10月
    発表会議名:第50回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 北戸 雄大、八木 良太、陳 自義、辻 幸一「共焦点型蛍光X線分析法における塩素の検出限界」(ポスター)
    発表年月:2014年09月
    発表会議名:日本分析化学会第63年会
    学会発表区分:国内
  • A. Liedl, D. Hampai, K. Tsuji, C. Polese, and S. Dabagov, On X-Ray Channeling in a Vibrating Capillary (poster).
    発表年月:2014年10月
    発表会議名:The 6th International Conference Channeling 2014 - Charged & Neutral Particles Channeling Phenomena
    学会発表区分:Italy
  • K. Tsuji, Y. Takimoto, and M. Yamanashi, WD-XRS imaging with Polycapillary optics (oral).
    発表年月:2014年10月
    発表会議名:The 6th International Conference Channeling 2014 - Charged & Neutral Particles Channeling Phenomena
    学会発表区分:Italy
  • (招待依頼講演) K. Tsuji, Scanning and Projection type XRF Imaging
    発表年月:2014年11月
    発表会議名:SARX2014 Latin American Seminar of Analysis by X-Ray Techniques
    学会発表区分:Argentina
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「共焦点型3次元蛍光X線分析法の開発応用例および関連手法の動向」
    発表年月:2014年09月
    発表会議名:第17回XAFS討論会
    学会発表区分:国内
  • (招待依頼講演)K. Tsuji, Workshop-organizer and instructor on “XRF imaging”
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演) K. Tsuji, Workshop-instructor on “Trace Analysis”
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • K. Tsuji, M. Yamanashi, S. Kato, T. Yamada, and T. Shoji, Wavelength dispersive XRF imaging spectrometer using polycapillary angular filter and 2D X-ray detector(oral).
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • K. Tsuji, Y. Tabuchi, Y. Shimizu, and T. Yamada, TXRF analysis of halogen in Japanese soy sauce and other liquid samples (oral).
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「分光分析の基礎‐可視紫外光~X線分光まで-」
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:2014年度「ぶんせき講習会」(実践編)「第61回機器による分析化学講習会」
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「共焦点型3次元蛍光X線分析法」2014年7月7-9日、第19回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際 (ポスター)
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:第19回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際 (第8回)‐機能性材料、環境試料、食品中の有害元素の簡易迅速分析法
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「ポリキャピラリーX線光学素子と蛍光X線分析への応用」(ポスター)
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:第19回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際 (第8回)‐機能性材料、環境試料、食品中の有害元素の簡易迅速分析法
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2014年07月
    発表会議名:第19回X線分析講習会 蛍光X線分析の実際 (第8回)‐機能性材料、環境試料、食品中の有害元素の簡易迅速分析法
    学会発表区分:国内
  • R.Dalipi, L. Borgese, A. Zacco, K. Tsuji, E. Bontempi, and L.E. Depero, Trace elements determination in Italian wines using total reflection X-ray fluorescence
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:38th International Symposium on Environmental Analytical Chemistry (ISEAC38)
    学会発表区分:Switzerland
  • Kouichi Tsuji, Jigi Chin, Shintaro Hirano, Observation of chemical reactions in solution by confocal micro XRF technique (oral).
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • Ryota Yagi, Shintaro Hirano, Mareike Falk, Jürgen Janek, Ursula Fittschen, Kouichi Tsuji, Confocal micro-XRF analysis of electrode materials of Li-ion battery (poster).
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • Ryota Yagi, Kouichi Tsuji, Low-Z element analysis by confocal micro-XRF instrument, (poster).
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • Yuri Tabuchi, Masaki Yamanashi, Yuichiro Shimizu, Takashi Yamada,Kouichi Tsuji, Total reflection X-ray fluorescence analysis of halogen in liquid samples (poster).
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • Masaki Yamanashi, Seiji Emoto, Shuichi Kato, TakashiYamada, Takashi Shoji, Kouichi Tsuji, Wavelength-dispersive X-ray fluorescence imaging spectrometer with grazing incidence configuration (poster).
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • Rogerta Dalipi, Laura Borgese, Andrea Casaroli, Marco Boniardi, Ursula Fittschen, Kouichi Tsuji, and Laura E. Depero, A TXRF study of metal release from AISI 304 in simulated food contact
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • Padilla-Alvarez R., Karydas A.G., Migliori A., Diawara Y., Kouichi Tsuji, Borgese L., Depero L. E., Proficiency test in TXRF water analysis
    発表年月:2014年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
    学会発表区分:Italy
  • 田渕 由莉、辻 幸一「飲料水中のハロゲンの全反射蛍光X線分析」(ポスター)
    発表年月:2014年05月
    発表会議名:第74回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 山梨 眞生、辻 幸一「斜入射配置での波長分散型蛍光X線イメージング装置の開発」 (ポスター)
    発表年月:2014年05月
    発表会議名:第74回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 八木 良太、平野 新太郎、辻 幸一、Ursula Fittschen「共焦点型3次元蛍光X線分析装置によるリチウムイオン電池電極材料の分析」(口頭)
    発表年月:2014年05月
    発表会議名:第74回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、八木 良太、陳 自義、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩「共焦点微小部蛍光X線分析法による鉄鋼材料中の軽元素の分析」 (口頭)
    発表年月:2014年05月
    発表会議名:製鋼第19委員会 製鋼計測化学研究会第64回会議
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「機器分析における装置校正と標準物質」
    発表年月:2014年05月
    発表会議名:2014年度「ぶんせき講習会」(基礎編その1)「分析における統計手法‐統計の基礎と統計手法の実際について-」
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「3次元蛍光X線分析装置の開発とその応用研究」
    発表年月:2014年01月
    発表会議名:ONSA 25周年記念講演会
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「全反射蛍光X線分光法(TXRF)の国際標準化」
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:JASISコンファレンス 表面化学分析技術国際標準化セミナー「表面・微小領域分析における国際標準化の現状」
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「3次元蛍光X線分析法の基礎と高分子材料分析への応用」
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:日本分析化学会 第18回高分子分析討論会
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「蛍光X線分析法の新たな展開:-微量分析と元素イメージング-」
    発表年月:2013年07月
    発表会議名:第15回テクノメイトコープ公開講演会
    学会発表区分:国内
  • 陳 自義、辻 幸一「共焦点三次元蛍光X線分析による鉄鋼材料の腐食挙動その場観察」(ポスター)
    発表年月:2014年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第167回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 八木 良太、辻 幸一「3次元蛍光X線分析装置の開発と電池材料等への適用 (口頭)
    発表年月:2014年01月
    発表会議名:関西分析研究会 平成25年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩 「真空仕様の共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と塗膜鋼板における腐食挙動観察」 (口頭)
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第166回秋季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析法による鋼板塗膜下腐食の挙動観察」 (口頭)
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:日本分析化学会第62年会
    学会発表区分:国内
  • 江本 精二、加藤 秀一、山田 隆、庄司 孝、辻 幸一「波長分散型蛍光X線イメージングにおける波長分解能の評価」 (口頭)
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:日本分析化学会第62年会
    学会発表区分:国内
  • 江本 精二、大森 崇史、加藤 秀一、堂井 真、庄司 孝、辻 幸一「波長分散型蛍光X線イメージングにおける空間分解能の評価」(ポスター)
    発表年月:2013年05月
    発表会議名:第73回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 平野 新太郎、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析法による海水中鉄鋼腐食挙動のその場観察」 (ポスター)
    発表年月:2013年05月
    発表会議名:第73回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 八木 良太、村上 悠人、辻 幸一、米谷 紀嗣「超臨界エタノール溶媒を用いた銅・銀合金ナノ粒子の合成とそのキャラクタリゼーション」 (ポスター)
    発表年月:2013年05月
    発表会議名:第73回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 芦田 尚郁実、岡 博史、辻 幸一「小型斜出射蛍光X線分析装置の開発に向けた基礎検討」 (口頭)
    発表年月:2013年05月
    発表会議名:第73回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • (ポスター)大森 崇史、辻 幸一「波長分散型蛍光X線イメージング装置の開発と性能評価」
    発表年月:2013年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第165回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • (口頭) 辻 幸一「X線分析とグロー放電スパッタリングによる鉄鋼中介在物の元素イメージング」
    発表年月:2012年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第165回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • (口頭)岡 博史、芦田 尚郁実、辻 幸一「小型斜出射蛍光X線分析装置の開発と評価」
    発表年月:2013年01月
    発表会議名:関西分析研究会 平成24年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • (ポスター)Shintaro Komatani, Aoyama Tomoki, and Kouichi Tsuji,3DXRF analysis of industrial device in comparison with SEM-EDS and conventional micro-XRF
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
    学会発表区分:日本
  • (ポスター)Takafumi Ashida, Tsuyoshi Sawamura, and Kouichi Tsuji, Development of a compact GE-XRF spectrometer for fast trace elemental analysis
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
    学会発表区分:日本
  • (ポスター)Shintaro Hirano, Yuta Kitado, Koji Akioka, Takashi Doi, Masahiro Arai, Kouichi and Tsuji, In situ 3DXRF monitoring of metal-corrosion and deposition processes near liquid/solid interface
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
    学会発表区分:日本
  • (ポスター)Ryota Yagi, Jigi Chin, Koji Akioka, Masahiro Arai, Takashi Doi, Kouichi Tsuji, 3DXRF analysis for observing corrosion process of painted coating layer on steel samples
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
    学会発表区分:日本
  • (ポスター)Yuri Tabuchi, Sho Kaku, and Kouichi Tsuji TXRF analysis of halogen in environmental and biological samples
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
    学会発表区分:日本
  • (ポスター)Seiji Emoto, Masaki Yamanashi, Takashi Shouji, Shuichi Kato, Takashi Yamada, and Kouichi Tsuji, Analytical characteristics of wavelength dispersive XRF imaging with polycapillary optics and 2D detector
    発表年月:2013年09月
    発表会議名:15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
    学会発表区分:日本
  • (ポスター)S. Smolek, T. Nakazawa, K. Nakano, K. Tsuji, C. Streli, P. Wobrauschek, Forensic Investigations with Different Confocal Micro-XRF Spectrometers, 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference, 5-9 August 2013, Westminster, Colorado, USA (poster).
    発表年月:2013年08月
    発表会議名:62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (ポスター)K. Akioka, T. Doi, M. Arai, T. Nakazawa, K. Tsuji, Under Film Corrosion Process of Steel Sheets Observed by Confocal Micro XRF Technique
    発表年月:2013年08月
    発表会議名:62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (ポスター)T. Ohmori, S. Emoto, S. Kato, M. Doi, T. Shoji, and K. Tsuji, Fast Elemental Imaging by Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Imaging Spectrometer
    発表年月:2013年08月
    発表会議名:62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (ワークショップ講師)Workshop-instructor on “Trace Analysis” Instructor
    発表年月:2013年08月
    発表会議名:62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, T. Nakazawa, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, Development of a vacuum confocal micro-XRF instrument and 3D-XRF analysis of layered materials,
    発表年月:2012年11月
    発表会議名:International symposium on "Recent advance in analytical techniques for steelmaking industry" (RATEC2012)
    学会発表区分:Japan
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, T. Ohmori, T. Nakazawa, X-ray elemental imaging with scanning and projection modes in the laboratory,
    発表年月:2012年09月
    発表会議名:"Channeling 2012" 5th International Conference Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena
    学会発表区分:Italy
  • K. Tsuji, Workshop “Trace/TXRF Analysis” Instructor
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, S. Kaku, T. Ohmori, T. Yoshioka, TXRF Analysis of Environmental and Biological Samples
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, T. Nakazawa, Development of a Vacuum Confocal Micro-XRF Instrument and Its Applications
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演)K. Tsuji, A. Tabe, T. Nakazawa, T. Awane, X-Ray Micro Analysis of Environmental and Painting Samples,
    発表年月:2012年05月
    発表会議名:in the special session “Prof. Rene Van Grieken: 40 years of international environmental chemistry” at the 37th edition of the International Symposium on Environmental Analytical Chemistry (ISEAC-37)
    学会発表区分:Belgium.
  • (ポスター)H. Oka, T. Sawamura, K. Tsuji, Development of a portable grazing-exit XRF analyzer
    発表年月:2012年11月
    発表会議名:International symposium on "Recent advance in analytical techniques for steelmaking industry" (RATEC2012)
    学会発表区分:Japan
  • (ポスター) F. Onoue, T. Nakamura, K. Tsuji, Elemental X-ray imaging combined with glow discharge sputtering
    発表年月:2012年11月
    発表会議名:International symposium on "Recent advance in analytical techniques for steelmaking industry" (RATEC2012)
    学会発表区分:Japan
  • (ポスター)M. A. Malek, T. Nakazawa, H.-W. Kang, K. Tsuji, C.-U. Ro, Characterization of layered materials related to forensic investigation by confocal micro-X-ray fluorescence and attenuated total reflectance FT-IR imaging
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:2012 Asia-Pacific Winter Conference on Plasma Spectrochemistry (2012APWC)
    学会発表区分:Korea
  • (ポスター)S. Emoto, K. Tsuji, Depth elemental imaging of near surface of the forensic samples by confocal 3D-XRF
    発表年月:2012年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
    学会発表区分:Austria
  • (ポスター)T. Ashida, T. Ohmori, K. Tsuji, X-ray elemental imaging by using two dimensional X-ray detector
    発表年月:2012年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
    学会発表区分:Austria
  • (ポスター)S. Hirano, S. Komatani, K. Tsuji, Micro X-ray beam produced with a single glass capillary and a metal small ball for XRF analysis
    発表年月:2012年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
    学会発表区分:Austria
  • (ポスター)T. Nakazawa, M. A. Malek, H. -W. Kang, K. Tsuji, C. -U. Ro, Characterization of Layered Materials by Confocal Micro-XRF and ATR-FT-IR Imaging Techniques
    発表年月:2012年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
    学会発表区分:Austria
  • (口頭)T. Nakazawa, A. Tabe, S. Smolek, C. Streli, P. Wobrauschek, K Tsuji, Evaluation of analytical performance of confocal micro-XRF spectrometers
    発表年月:2012年06月
    発表会議名:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
    学会発表区分:Austria
  • (ポスター)K. Nakano, S. Emoto, T. Nakazawa, K. Otsuki, K. Tsuji, Depth Elemental Imaging of Forensic Samples by Confocal Micro XRF Method
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (ポスター)S. Komatani, S. Hirano, T. Aoyama, Y. Yokota, H. Ueda, K. Tsuji, Micro X-Ray Beam Produced with a Single Glass Capillary for XRF Analysis,
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (ポスター)T. Nakazawa, M. A. Malek, H.-W. Kang, C.-U. Ro, K. Tsuji, Characterization of Layerd Materials Related to Forensic Investigation by Confocal Micro-XRF and ATR-FT-IR Imaging Techniques
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (ポスター)S. Hirano, T. Yoshioka, A. Tabe, T. Nakazawa, K. Tsuji, Application of Confocal Micro-XRF to Solid-Liquid Interface Analysis and Ancient Chinese Ceramics
    発表年月:2012年08月
    発表会議名:61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
    学会発表区分:USA
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「全反射蛍光X線分光法(TXRF)の国際標準化」
    発表年月:2012年09月
    発表会議名:JASISコンファレンス 表面化学分析国際標準化セミナー「表面分析における国際標準化の現状」
    学会発表区分:国内
  • (招待・依頼講演)辻 幸一「蛍光X線微小部微量分析法の現状と展望」
    発表年月:2012年07月
    発表会議名:第121回一水会分析管理研究会
    学会発表区分:国内
  • 大森 崇史、辻幸一「波長分散型蛍光X線イメージング分光法の提案・開発と応用可能性」(ポスター)
    発表年月:2013年02月
    発表会議名:「バイオインターフェース先端マテリアルの創生」第3回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、平野 新太郎、中澤 隆、秋岡 幸司、高部 秀樹, 土井 教史、荒井 正浩「共焦点3次元蛍光X線分析法による水溶液下での鋼の腐食挙動その場観察の試み」(口頭)
    発表年月:2013年01月
    発表会議名:製鋼第19委員会 製鋼計測化学研究会
    学会発表区分:国内
  • 西脇 芳典、蒲生 啓司、中澤 隆、辻 幸一「三次元蛍光X線分析による自動車ガラスプリント黒セラミックス片の非破壊異同識別」(口頭)
    発表年月:2012年11月
    発表会議名:日本法科学技術学会 第18回学術集会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中澤 隆、大槻 和徳「真空仕様の共焦点三次元蛍光X線分析装置の開発と非破壊深さ方向元素分析への応用」(口頭)
    発表年月:2012年11月
    発表会議名:日本法科学技術学会 第18回学術集会
    学会発表区分:国内
  • 芦田 尚郁実、岡 博史、辻 幸一「斜出射蛍光X線分析装置の小型化の検討」(ポスター)
    発表年月:2012年10月
    発表会議名:第48回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松矢 淳宣、辻 幸一「複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価(その2)」(ポスター)
    発表年月:2012年10月
    発表会議名:第48回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 大森 崇史、加藤 秀一、堂井 真、庄司 孝、辻 幸一「波長分散型蛍光X線イメージング分光法の開発と基礎特性の評価」(口頭)
    発表年月:2012年10月
    発表会議名:第48回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 中澤 隆、辻 幸一「真空仕様の共焦点型蛍光X線分析装置の開発とその応用」(口頭)
    発表年月:2012年10月
    発表会議名:第48回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 江本 精二、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析法による法科学試料の測定とその解析」(ポスター)
    発表年月:2012年09月
    発表会議名:日本分析化学会 第61年会
    学会発表区分:国内
  • 平野 新太郎、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、高部 秀樹、辻 幸一「三次元蛍光X線分析法による水溶液中金属元素の分布解析」(口頭)
    発表年月:2012年09月
    発表会議名:日本分析化学会 第61年会
    学会発表区分:国内
  • 松矢 淳宣、辻 幸一「複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価」(ポスター)
    発表年月:2012年05月
    発表会議名:第72回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 大森 崇史、辻 幸一「X線CCDカメラを用いた蛍光X線イメージング装置の試作と評価」(ポスター)
    発表年月:2012年05月
    発表会議名:第72回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 平野 新太郎、辻 幸一「ガラスキャピラリーを用いるX線ビームの微細化」(ポスター)
    発表年月:2012年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 平成24年 第163回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 芦田 尚郁実、辻 幸一「二次元X線検出器を用いた試料内部の元素識別型可視化の検討」(ポスター)
    発表年月:2012年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 平成24年 第163回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 江本 精二、辻 幸一「三次元蛍光X線分析法による材料表面近傍の深さ元素イメージング」(ポスター)
    発表年月:2012年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 平成24年 第163回春季公演大会
    学会発表区分:国内
  • カク ショウ、辻 幸一「環境水試料の全反射蛍光X線の国際標準規格のためのラウンドロビンテスト」(ポスター)
    発表年月:2012年02月
    発表会議名:平成23年度大阪市立大学大学院工学研究科「人間・環境適合型機能性オキサイド・マテリアルの新展開」プロジェクト・シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 大森 崇史、辻 幸一「波長分散型蛍光X線イメージング装置の試作」(ポスター)
    発表年月:2012年02月
    発表会議名:平成23年度大阪市立大学大学院工学研究科「人間・環境適合型機能性オキサイド・マテリアルの新展開」プロジェクト・シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 松矢 淳宣、辻 幸一「複合型X線光学素子を用いた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価」(ポスター)
    発表年月:2012年02月
    発表会議名:平成23年度大阪市立大学大学院工学研究科「人間・環境適合型機能性オキサイド・マテリアルの新展開」プロジェクト・シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、清水 健一「グロー放電処理後の材料表面のSEM観察(口頭)
    発表年月:2012年02月
    発表会議名:平成23年度大阪市立大学大学院工学研究科「人間・環境適合型機能性オキサイド・マテリアルの新展開」プロジェクト・シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 松矢 淳宣、辻 幸一「複合型X線光学素子を用いた微小部蛍光X線分析装置の試作」(ポスター)
    発表年月:2012年02月
    発表会議名:「バイオインターフェース先端マテリアルの創生」第2回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 吉岡 達史、辻 幸一「海水試料の全反射蛍光X 線分析における試料準備法」(口頭)
    発表年月:2012年01月
    発表会議名:関西分析研究会 平成23年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • 松矢 淳宣、辻 幸一「グロー放電処理による材料表面の迅速清浄化と高分解能SEM観察」(口頭)
    発表年月:2012年01月
    発表会議名:関西分析研究会 平成23年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • 浪田 真由、中澤 隆、辻 幸一、矢持 進「蛍光X線分析法を用いた都市河川大和川におけるアユ遡上数の推定」(口頭)
    発表年月:2011年11月
    発表会議名:平成23年度日本水産学会近畿支部後期例会
    学会発表区分:国内
  • 田部 淳嗣、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析装置における二次励起効果の検証」(ポスター)
    発表年月:2011年11月
    発表会議名:日本金属学会2011年秋期(第149回)大会
    学会発表区分:国内
  • 中澤 隆、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析装置による半導体の非破壊深さ分析」(ポスター)
    発表年月:2011年11月
    発表会議名:日本金属学会2011年秋期(第149回)大会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中澤 隆、中野 和彦、大槻 和徳、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、高部 秀樹「3次元蛍光X線分析法による材料表面近傍の深さ元素イメージング」(口頭)
    発表年月:2011年11月
    発表会議名:日本金属学会2011年秋期(第149回)大会
    学会発表区分:国内
  • 駒谷 慎太郎、青山 朋樹、大澤 澄人、米原 翼、辻 幸一「超小型X線顕微鏡の開発」(ポスター)
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:第47回 X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 大森 崇史、辻 幸一「波長分散型蛍光X線イメージング装置の試作」(ポスター)
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:第47回 X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松矢 淳宣、芦田 尚郁実、辻 幸一「複合型X線装置を用いた微小部蛍光X線分析装置の評価」(ポスター)
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:第47回 X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 中澤 隆、田部 淳嗣、中野 和彦、大槻 和徳、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、高部 秀樹、辻 幸一「共焦点型3次元蛍光X線分析による塗膜鋼板の解析及び高感度化」(口頭)
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:第47回 X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「蛍光X線イメージングの研究動向」(口頭)
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:第47回 X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中澤 隆、中野 和彦、清水 健一「鋼中介在物の3次元元素分析に向けた取り組み」(口頭)
    発表年月:2011年09月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 第162回秋季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 田部 淳嗣、中澤 隆、中野 和彦、辻 幸一、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、高部 秀樹「鉄鋼材料表面近傍の非破壊的元素イメージング」(口頭)
    発表年月:2011年09月
    発表会議名:日本分析化学会第60年会
    学会発表区分:国内
  • (招待依頼講演)辻 幸一「蛍光X線元素イメージングの鑑識資料への応用」
    発表年月:2011年06月
    発表会議名:堀場製作所内講演会
    学会発表区分:国内
  • (企画)「法科学に有効な機器分析法」
    発表年月:2011年11月
    発表会議名:日本分析化学会近畿支部・近畿分析技術研究懇話会 平成23年度 第1回 提案公募型セミナー
    学会発表区分:国内
  • (招待依頼講演)辻 幸一「キャピラリーX線集光素子を用いた蛍光X線元素イメージング」
    発表年月:2012年04月
    発表会議名:大阪市立大学大学院工学研究科 第49回オープン・ラボラトリー
    学会発表区分:国内
  • (招待依頼講演)K. Tsuji, X-ray elemental imaging in the laboratory - Research activity at OCU (Osaka City University) -
    発表年月:2012年03月
    発表会議名:LNF Seminar
    学会発表区分:イタリア
  • (招待依頼講演)K. Tsuji, GD-SEM observation and 3D-XRF analysis of industrial materials
    発表年月:2012年02月
    発表会議名:Inha University Seminar
    学会発表区分:韓国
  • (招待依頼講演)K. Tsuji, A few approaches for elemental imaging at OCU (Osaka City University)
    発表年月:2012年01月
    発表会議名:TU Wien Seminar
    学会発表区分:オーストリア
  • (招待依頼講演) K. Tsuji, T. Nakazawa, 3D-XRF Analysis for Industrial Samples and Projection Type XRF Imaging,
    発表年月:2011年11月
    発表会議名:The Seminar on Characterization of Advanced Inorganic Materials with Different Methods,Shanghai Institute of Ceramics
    学会発表区分:中国
  • (ポスター出展)辻 幸一、郝 晶「全反射蛍光X線分析法による有害重金属元素分析」
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:2011 中国国際工業博覧会
    学会発表区分:中国
  • (ポスター) T. Nakazawa, K. Tsuji, Enhancement of XRF intensity using total reflection in Au-coated capillary optics
    発表年月:2011年06月
    発表会議名:TXRF2011
    学会発表区分:ドイツ
  • (ポスター) T. Yoshioka, Y.Imanishi,K. Tsuji, Y. Shimizu, T. Yamada, H. Takabe, T. Doi, K. Akioka, M. Arai, Sample preparation of sea water for TXRF analysis
    発表年月:2011年06月
    発表会議名:TXRF2011
    学会発表区分:ドイツ
  • (ポスター)T. Nakazawa, A. Tabe, K. Nakano, K. Tsuji, Micro-XRF Analysis in Helium Atmosphere
    発表年月:2011年05月
    発表会議名:ICAS2011
    学会発表区分:日本
  • (招待講演)T. Nakazawa, K. Nakano, K. Tsuji, Chemical Depth Imaging by Confocal micro-XRF
    発表年月:2011年10月
    発表会議名:FACSS2011
    学会発表区分:アメリカ
  • (招待講演)K. Tsuji, C. Nishi, T. Nakazawa, K. Nakano, K.Otsuki, Y. Nishiwaki,H. Takenaka,3D-XRF Analysis of Several Forensic and Industrial Samples
    発表年月:2011年08月
    発表会議名:DXC2011
    学会発表区分:アメリカ
  • (招待講演)K. Tsuji, M. Yamaguchi, T. Ohmori, XRF imaging using total reflection in polycapillary optics and X-ray CCD detector
    発表年月:2011年06月
    発表会議名:TXRF2011
    学会発表区分:ドイツ
  • (学生ポスターセッションアブストラクト集 PS-65)吉岡 達史、辻 幸一「ペーパークロマトグラフィーを利用した蛍光X線分析法の検討」
    発表年月:2011年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 平成23年 第161回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • (学生ポスターセッションアブストラクト集 PS-63) 松矢 淳宣、辻 幸一「グロー放電スパッタリングを用いたX線元素イメージング法」
    発表年月:2011年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 平成23年 第161回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、中澤 隆、中野 和彦、恩地 啓実、浪田 真由、矢持 進「鮎の耳石の蛍光X線元素イメージング解析」
    発表年月:2011年02月
    発表会議名:平成22年度大阪市立大学重点研究「バイオインターフェース先端マテリアルの創生」シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、中野 和彦、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩「塗装鋼板表面近傍の3次元蛍光X線分析による非破壊元素イメージング」
    発表年月:2011年01月
    発表会議名:独立行政法人日本学術振興会 製鋼第19委員会 製鋼計測化学研究会第51回会議
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中澤 隆、西 ちひろ、田部 淳嗣、中野 和彦、辻 幸一「3次元蛍光X線分析法の感度向上と鑑識資料の分析への適用」
    発表年月:2011年01月
    発表会議名:関西分析研究会 平成22年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一「大阪市立大学工学研究科化学生物系専攻工業物理化学研究室(辻幸一研究室)研究室紹介」
    発表年月:2011年01月
    発表会議名:関西分析研究会 平成22年度第二回例会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻幸一「実験室3次元蛍光X線分析装置の開発と鑑識科学などへの応用」
    発表年月:2010年12月
    発表会議名:大阪府立大学・大阪市立大学ニューテクフェア
    学会発表区分:国内
  • 口頭:今西 由紀子「玩具溶出液の全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2010年11月
    発表会議名:第105回分析技術研究会例会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中澤 隆「金属コーティングキャピラリーにおけるX線増強効果」
    発表年月:2010年11月
    発表会議名:第105回分析技術研究会例会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中野 和彦「いくつかの鑑識試料の非破壊蛍光X線分析」
    発表年月:2010年11月
    発表会議名:第105回分析技術研究会例会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:大槻 和徳、西脇 芳典、中野 和彦、辻 幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析法の法科学試料への応用」
    発表年月:2010年11月
    発表会議名:日本法科学技術学会第16回学術集会
    学会発表区分:国内
  • ポスター: 田部 淳嗣、中野 和彦、辻 幸一、竹中 久貴「3 次元構造標準物質を用いた共焦点3次元蛍光X線分析装置の評価」
    発表年月:2010年10月
    発表会議名:第46回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:山口 情、大森 崇史、辻 幸一「X線2次元検出器を用いた蛍光X線元素イメージングの試み」
    発表年月:2010年10月
    発表会議名:第46回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:今西 由紀子、西田 吉彦、辻 幸一「全反射蛍光X線分析のための溶液試料乾燥痕形状の制御について」
    発表年月:2010年10月
    発表会議名:第46回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 中澤 隆、中町 和男、中野 和彦、矢持 進、辻 幸一「鮎の耳石の蛍光X線元素イメージング」
    発表年月:2010年10月
    発表会議名:第46回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中野 和彦、西 ちひろ、辻 幸一、大槻和徳、西脇 芳典「共焦点型3次元蛍光X線分析による鑑識科学分野への応用」
    発表年月:2010年10月
    発表会議名:第46回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻幸一「X線元素イメージング装置の開発状況」
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:大阪市立大学重点研究 バイオインターフェース先端マテリアルの創生 第2回イブニングセミナー
    学会発表区分:国内
  • ポスター:中澤 隆、西ちひろ、中野 和彦、辻 幸一、西脇 芳典、大槻 和徳「高分解能3次元蛍光X線分析装置の開発と鑑識試料の非破壊深さ分析」
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:日本分析化学会第59年会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中澤 隆、中野 和彦、辻 幸一、吉田 勝、大澤 澄人、駒谷 慎太郎「X線キャピラリーの特性評価」
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:日本分析化学会第59年会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一「固液界面および液液界面近傍の蛍光X線スペクトル」
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第160回秋季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、中澤 隆、中野 和彦「3次元蛍光X線分析装置の開発状況と応用例」
    発表年月:2010年05月
    発表会議名:独立行政法人日本学術振興会製鋼第19委員会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中野和彦、坂東 篤、内原 博、大澤 澄人、駒谷 慎太郎、辻 幸一「3次元蛍光X線分析装置の空間分解能の向上」
    発表年月:2010年05月
    発表会議名:第71回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:田部 淳嗣、中野 和彦、辻 幸一、坂東 篤、内原 博、大澤 澄人、駒谷 慎太郎、下山 進「絵画試料の共焦点型3次元蛍光X線分析」
    発表年月:2010年05月
    発表会議名:第71回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:今西 由紀子、西田 吉彦、辻 幸一「微少量サンプリングによる溶液試料中微小空間の全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2010年05月
    発表会議名:第71回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、中町 和男、西田 吉彦、中野 和彦、坂東 篤、内原 博、大澤 澄人、駒谷 慎太郎「実験室におけるマイクロX線ビームの作成と微量元素分析への応用」
    発表年月:2010年05月
    発表会議名:第71回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「微小部・微量X線分析に向けての取り組み」
    発表年月:2010年11月
    発表会議名:第105回分析技術研究会例会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「3次元蛍光X線分析装置の開発と鑑識試料分析等への応用」
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:東京コンファレンス2010分析若手研究者企画「実際の材料解析」
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「高空間分解能蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2010年06月
    発表会議名:平成22年度JSTイノベーションプラザ大阪成果報告会(育成研究)
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演: 辻 幸一「放射線発生装置の安全取扱い(エックス線、加速器)及び研究における放射線の有用性」
    発表年月:2010年04月
    発表会議名:平成22年度放射性同位元素等の取扱者に対する教育及び訓練
    学会発表区分:国内
  • 口頭:K. Tsuji, K. Nakano, T. Nakazawa, Development of Confocal 3D-XRFInstrument and NondestructiveDepth Analysis of ForensicSamples
    発表年月:2011年03月
    発表会議名:Pittsburgh Conference on Analytical Chemistry and Applied Spectroscopy
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:K. Tsuji, K. Nakano, Development of Micro and 3D XRF Instrument in the Laboratory
    発表年月:2010年08月
    発表会議名:The 10th International Conference on X-ray Microscopy
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:T. Nakazawa, K. Nakano, K. Tsuji, Analytical Performance of Newly Developed 2D/3D-XRF Instruments
    発表年月:2010年08月
    発表会議名:DXC2010
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター: Y. Nishida, K. Tsuji, Liquid-Liquid near interface analysis by micro-XRF using injection needle type collimators
    発表年月:2010年06月
    発表会議名:European Conference on X-ray Spectrometry
    学会発表区分:ポルトガル
  • 口頭:K. Nakano,K. Tsuji, Nondestructive depth profiling of layered materials and 3D-XRF analysis of biological sample
    発表年月:2010年06月
    発表会議名:European Conference on X-ray Spectrometry
    学会発表区分:ポルトガル
  • 招待講演:K. Tsuji, Comparison ofanalytical performance of 3D-XRF instruments
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:China 2010 XRS Conference
    学会発表区分:中国
  • 招待講演:K. Tsuji, K. Nakano, C. Nishi, T. Nakazawa, Nondestructive elemental depth profiling by confocal 3D-XRF method in the Laboratory
    発表年月:2010年09月
    発表会議名:Workshop; National Research Center for Geoanalysis,
    学会発表区分:中国
  • ワークショップ座長:K. Tsuji, Workshop“Standards and Advanced Sample Preparation for XRF Analysis” Organizer
    発表年月:2010年08月
    発表会議名:DXC2010
    学会発表区分:アメリカ
  • 招待講演: K. Tsuji, X-ray Chemical Imaging in Scanning and Projection modes in the laboratory
    発表年月:2010年08月
    発表会議名:DXC2010
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:田部 淳嗣、中野 和彦、辻 幸一「共焦点型3次元蛍光X線分析装置の検出下限の評価および絵画試料への応用」
    発表年月:2010年02月
    発表会議名:平成21年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第5回シンポジウム
  • ポスター:宮垣 祐志、中野 和彦、辻 幸一「トランスポータブル微小部蛍光X線分析装置の改良」
    発表年月:2010年02月
    発表会議名:平成21年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第5回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • ポスター:大森 崇史、山口 情、辻 幸一「二次元分光素子を用いた投影型蛍光X線元素イメージング法の開発」
    発表年月:2010年02月
    発表会議名:平成21年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第5回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 口頭: 辻 幸一、中野 和彦「高空間分解能型3次元蛍光X線分析装置」
    発表年月:2010年02月
    発表会議名:平成21年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第5回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • ポスター:辻 幸一「新規で簡便な蛍光X線イメージング技術、装置」
    発表年月:2010年01月
    発表会議名:大阪市立大学ニューテクノガイド2010
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中野 和彦、大澤 澄人、坂東 篤、駒谷 慎太郎、内原 博、辻 幸一「高空間分解能型共焦点3次元蛍光X線分析による表面近傍の非破壊深さ方向分析」
    発表年月:2009年11月
    発表会議名:第45回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:中町 和男、中野 和彦、大澤 澄人、駒谷 慎太郎、坂東 篤、内原 博、辻 幸一「複合型X線光学素子による微小部蛍光X線分析装置の改良」
    発表年月:2009年11月
    発表会議名:第45回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:今西 由紀子、西田 吉彦、粟根 徹、中野 和彦、辻 幸一「玩具表面層の微小部蛍光X線分析とその溶出プロセスの全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2009年11月
    発表会議名:第45回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター7:山口 情、辻 幸一「ポリキャピラリー光学素子のX線エネルギーフィルタリング特性を利用したX線化学イメージング」
    発表年月:2009年11月
    発表会議名:第45回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:西田 吉彦、宮垣 祐志、辻 幸一「微少量溶液サンプリングと全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2009年11月
    発表会議名:第45回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:中野 和彦、中町 和男、大澤 澄人、坂東 篤、駒谷 慎太郎、内原 博、辻 幸一「キャピラリーX線集光素子を用いた高輝度マイクロX線ビームの作成」
    発表年月:2009年09月
    発表会議名:日本分析化学会第58年会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、田部 淳嗣、中野 和彦「共焦点型3次元蛍光X線分析における空間分解能の向上について
    発表年月:2009年09月
    発表会議名:日本分析化学会第58年会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:今西 由紀子、西田 吉彦、粟根 徹、中野 和彦、辻 幸一「玩具表面層の微小部蛍光X線分析とその溶出液の時間依存型全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2009年09月
    発表会議名:日本分析化学会第58年会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:山口 情、大森 崇史、辻 幸一「ポリキャピラリー光学素子によるX線エネルギーフィルターリング特性」
    発表年月:2009年09月
    発表会議名:日本分析化学会第58年会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:西田吉彦、宮垣 裕志、辻 幸一「全反射蛍光X線分析のための微少量溶液サンプリング方法の検討」
    発表年月:2009年09月
    発表会議名:日本分析化学会第58年会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:西田 吉彦、辻 幸一「注射針型コリメータ―を用いた蛍光X線分析装置の試作及び腐食プロセスのモニタリング」
    発表年月:2009年05月
    発表会議名:第70回分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:中町 和男、中野 和彦、大澤 澄人、駒谷 慎太郎、坂東 篤、内原 博、辻 幸一「複合型X線光学素子による微小部蛍光X線分析装置の試作」
    発表年月:2009年05月
    発表会議名:第70回分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中野 和彦、坂東 篤、大澤 澄人、駒谷 慎太郎、内原博、辻幸一「共焦点型三次元蛍光X線分析の環境資料への応用」
    発表年月:2009年05月
    発表会議名:第70回分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭: 川又 誠也、中野 和彦、辻 幸一「玩具表面層の有害金属元素などの蛍光X線分析」
    発表年月:2009年05月
    発表会議名:第70回分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「微小部(3D)蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2009年12月
    発表会議名:東北大学金属材料研究所ワークショップ ワークショップ研究テーマ "新素材開発と工程制御・品質管理に向けた分析・解析技術の進展"
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「新規で簡便な蛍光X線イメージング技術、装置の開発」
    発表年月:2009年09月
    発表会議名:JSTイノベーション・ジャパン2009-大学見本市
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演: 辻 幸一「蛍光X線イメージング技術」
    発表年月:2009年07月
    発表会議名:大阪府立大学・大阪市立大学 新技術説明会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演: 辻 幸一、放射線発生装置の安全取扱についての講義
    発表年月:2009年04月
    発表会議名:放射性同位元素等の取扱者に対する教育及び訓練
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「X線を利用した分析測定分野の先端技術と研究動向」
    発表年月:2009年04月
    発表会議名:第2回NEDO光集積ラボラトリー公開セミナー
    学会発表区分:国内
  • 口頭:K. Nakano, M. Kawamata,and K. Tsuji, TXRF Analysis of Multiple Droplet Residues
    発表年月:2009年07月
    発表会議名:DXC2009
    学会発表区分:アメリカ
  • 口頭:K. Tsuji, M. Kawamata, and K. Nakano, TXRF AND MICRO-XRF ANALYSIS OF PLASTIC TOYS AND SOILS
    発表年月:2009年07月
    発表会議名:DXC2009
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:T.Awane, S. Fukuoka, K. Nakano,K. Tsuji, Grazing Exit Micro XRF Analysis of Harzardous Comtaminations on a Plant Leaf
    発表年月:2009年06月
    発表会議名:TXRF2009
    学会発表区分:スウェーデン
  • 口頭:K. Tsuji, M. Yamaguchi, and T.Yonehara, X-ray Energy Filtering by Using Total Reflection in Polycapillary X-ray Optics
    発表年月:2009年06月
    発表会議名:TXRF2009
    学会発表区分:スウェーデン
  • 招待講演:K. Tsuji, K. Nakano, Micro and Trace X-ray Fluorescence Analysis in Laboratory
    発表年月:2009年10月
    発表会議名:FACSS2009
    学会発表区分:アメリカ
  • 招待講演: K. Tsuji, K. Nakamachi, K. Nakano, Improvement of spatial resolution in 2D and 3D X-ray fluorescence analysis, (Keynote lecture)
    発表年月:2009年08月
    発表会議名:36th CSI
    学会発表区分:ハンガリー
  • ポスター:織田 大輔、米原 翼、中野 和彦、辻 幸一「トランスポータブル微小部蛍光X線分析装置の開発と応用」
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:平成20年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第4回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • ポスター: 中村 卓也、川又 誠也、辻 幸一「全反射蛍光X線分析法による生体関連試料中金属元素の微量分析」
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:平成20年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第4回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、西田 吉彦、中野 和彦「水溶液中の微小部蛍光X線分析」
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:平成20年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第4回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 口頭:米原翼、中野 和彦、辻 幸一「小型微小部蛍光線分析装置の開発と応用例」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:独立行政法人日本学術振興会 製鋼第19委員会 製鋼計測化学研究会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:中野 和彦、辻 幸一、大澤 澄人、坂東 篤、駒谷 慎太郎、内原 博「二次元および三次元蛍光X線分析法の溶液試料への応用」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:西田 吉彦、辻 幸一「ニードル型コリメーターを用いた液液界面近傍の蛍光X線分析」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:中町 和男、中野 和彦、辻 幸一、大澤 澄人、坂東 篤、駒谷 慎太郎、内原 博「複合型X線光学素子による微小部蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:米原 翼、山口 情、辻 幸一「ポリキャピラリーX線光学素子を用いるエネルギーフィルター特性」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:米原 翼、織田 大輔、中野 和彦、辻 幸一「分析視野制限型の小型微小部蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:福岡 慎太郎、粟根 徹、辻 幸一「微小部斜出射蛍光X線分析法を用いた深さ方向分析」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:川又 誠也、中村 卓也、辻 幸一、荒波 一史、山田 隆、片山 貴子、日野 雅之、鰐渕 英機「血液中金属元素の全反射蛍光X線迅速分析」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:川又 誠也、辻 幸一「微小部全反射蛍光X線分析法による同一基板上複数試料の迅速分析」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第44回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中村 卓也、川又 誠也、荒波 一史、山田 隆「血液等生体関連試料中の金属元素の迅速全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2008年09月
    発表会議名:2008分析展 東京コンファレンス2008
    学会発表区分:国内
  • 西田 吉彦、中野 和彦、辻 幸一「蛍光X線分析法による液液界面・固液界面近傍の元素分布測定」
    発表年月:2008年09月
    発表会議名:日本分析化学会第57年会
    学会発表区分:国内
  • 米原 翼、織田 大輔、中野 和彦、辻 幸一「小型微小部蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2008年09月
    発表会議名:日本分析化学会第57年会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、西田 吉彦、辻 幸一「溶液および液-液界面近傍の微小部蛍光X線分析」
    発表年月:2008年09月
    発表会議名:日本分析化学会第57年会
    学会発表区分:国内
  • 廣瀬 幸範、工藤 修一、村中 誠志、清水 健一、辻 幸一「SEMを用いたCu微細配線結晶性評価技術」
    発表年月:2008年05月
    発表会議名:社団法人日本顕微鏡学会第64回学術講演会JSM-2008
    学会発表区分:国内
  • 勝井 慶子、辻 幸一「植物資料における元素移動過程の蛍光X線観察実験」
    発表年月:2008年05月
    発表会議名:第69回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、水平 学、松田 賢士、辻 幸一「食材中微量金属定量用蛍光X線分析用標準物質の開発・第2報」
    発表年月:2008年05月
    発表会議名:第69回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、大久保 健太、辻 幸一「天然高分子を用いた蛍光X線分析法のための環境水試料の高度濃縮法の検討」
    発表年月:2008年05月
    発表会議名:第69回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、松田 晃典、駒谷 慎太郎、大澤 澄人、坂東 篤、内原 博、辻 幸一「微小部蛍光X線分析のための複合型X線集光素子の試作」
    発表年月:2008年05月
    発表会議名:第69回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 松井 宏、川又 誠也、荒波 一史、清水 雄一郎、山田 隆、日野 雅之、辻 幸一「血液中金属元素の迅速全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2008年05月
    発表会議名:第69回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「元素識別可能なX線イメージング」
    発表年月:2009年01月
    発表会議名:大阪市立大学(OCU) ニューテクガイド2009
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「実験室における微小部・微量蛍光X線分析法」
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:第37回放射線科学研究会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「血液中金属イオンの元素分析法」
    発表年月:2008年09月
    発表会議名:メタルイオンスタディプロトコールミーティング
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「蛍光X線分析による環境試料中の有害元素の測定-RoHS、土壌汚染対策防止法への対応-」
    発表年月:2008年07月
    発表会議名:第3回大阪市立大学産学連携セミナー・エコロジー社会を創造するものづくり
    学会発表区分:国内
  • ポスター:T. Awane, S. Fukuoka, and K. Tsuji,Grazing Exit Micro X-ray Fluorescence Analysis of a Hazardous Metal Attached to a Plant Leaf Surface using an X-ray Absorber Method,
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • ポスター:Y. Nishida, K. Nakano, and K. Tsuji, Micro XRF analysis in the solutions by using needle-type X-ray collimators
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • ポスター:K. Nakamachi,and K. Tsuji, Micro X-ray beam produced by polycapillary x-ray lens and conical pinhole aperture
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • ポスター:T. Yonehara, and K. Tsuji, X-ray chemical imaging using polycapillary x-ray optics in the laboratory
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • ポスター:S. Fukuoka, K. Nakano, and K. Tsuji,Grazing exit micro XRF analysis of layered reference materials,
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • ポスター:M. Kawamata, and K. Tsuji, Fundamental research on samplepreparation for TXRF analysis
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JSTInternational Symposium on “Micro and TraceX-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • 口頭:K. Tsuji, T. Yonehara, M. Yamaguchi, and K. Nakano, X-ray chemical imaging with scanning- and projection modes in the laboratory
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • 口頭:K. Nakano, S. Fukuoka, and K. Tsuji, Reference materials (in film) for 3D-XRF analysis
    発表年月:2009年02月
    発表会議名:JST International Symposium on “Micro and Trace X-ray Analysis”
    学会発表区分:日本
  • 口頭:K. Tsuji, Micro and imaging x-ray analysis by using polycapillary x-ray optics
    発表年月:2008年08月
    発表会議名:Part of the SPIE International Symposium on Optical Engineering + Applications
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:K. Nakano, K. Tsuji, Preparation of the Multi-Layered Plastic Reference Materials for Confocal 3D-Micro X-ray Fluorescence Analysis
    発表年月:2008年08月
    発表会議名:DXC2008
    学会発表区分:アメリカ
  • 口頭:K. Nakano, K. Okubo, K. Tsuji, Preconcentration of the Environmental water by Agar for X-ray fluorescence
    発表年月:2008年08月
    発表会議名:DXC2008
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:K. Tsuji, H. Matsui, M. Hino, H. Wanibuchi, H. Kohno, K. Aranami, Y. Shimizu, T. Yamada, SAMPLE PREPARATION FOR TOTAL-REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BLOOD SAMPLE,
    発表年月:2008年08月
    発表会議名:DXC2008
    学会発表区分:アメリカ
  • 口頭:K. Tsuji, A. Matsuda, K. Nakano, S. Komatani, S. Ohzawa, H. Uchihara, APPLICATIONS OF POLYCAPILLARY OPTICS TO MICRO AND TWO DIMENSIONAL XRF ANALYSIS
    発表年月:2008年08月
    発表会議名:DXC2008
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:K. Tsuji, K. Nakano,3D-XRF Analysis of Solutions in Micro Chemical Chip
    発表年月:2008年07月
    発表会議名:XRM2008
    学会発表区分:スイス
  • ポスター:K. Tsuji and S. Kawamata, Micro TXRF Analyses of Multiple Residues on A Flat Substrate
    発表年月:2008年06月
    発表会議名:EXRS2008
    学会発表区分:クロアチア
  • ポスター:K. Tsuji, K. Nakano, K. Okubo and Y. Nishida, X-ray Fluorecenece Analysis Using X-ray Transparent Thin Films for Sample Surpport
    発表年月:2008年06月
    発表会議名:EXRS2008
    学会発表区分:クロアチア
  • 口頭:K. Tsuji and Y. Nishida, X-ray Fluorecenece Analysis of Liquid/Solid Samples, EX
    発表年月:2008年06月
    発表会議名:EXRS2008
    学会発表区分:クロアチア
  • 招待講演:K. Tsuji, Applications of Glow Discharge Plasma and Micro X-ray Fluorescence Analysis
    発表年月:2008年11月
    発表会議名:The International Expert Meeting on GDS
    学会発表区分:日本
  • 招待講演:K. Tsuji, M. Yamaguchi, T. Yonehara, Feasibility of X-ray Energy Filtering by using Polycapillary X-ray Optics
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:57st Wokshop : “Channeling 2008“ Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena
    学会発表区分:イタリア
  • 招待講演:K. Tsuji, K. Nakano, Trace and Micro XRF analysis in the Laboratory
    発表年月:2008年10月
    発表会議名:The 7th Chinese X-Ray Spectrometry Conference
    学会発表区分:中国
  • 中町 和男、辻 幸一「グロー放電スパッタリングによる金属表面清浄法の検討」
    発表年月:2008年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第155回春季講演大会 学生ポスターセッション
    学会発表区分:国内
  • 西田 吉彦、辻 幸一「液体中の固体材料分析装置の試作」
    発表年月:2008年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第155回春季講演大会 学生ポスターセッション
    学会発表区分:国内
  • 勝井 慶子、辻 幸一「植物資料における元素移動の蛍光X線観察」
    発表年月:2008年02月
    発表会議名:H19年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第3回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 大久保 健太、中野 和彦、辻 幸一「蛍光X線分析のための寒天を用いた水溶液試料の濃縮方法」
    発表年月:2008年02月
    発表会議名:H19年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第3回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中野 和彦、松田 晃典、米原 翼「実験室における微小部蛍光X線分析法の開発と適用例」
    発表年月:2008年02月
    発表会議名:H19年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第3回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「蛍光X線による微量元素分析技術」
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:第30回「オープン・ラボラトリー」『より良い生活を支えるマテリアルの開拓』「マテリアルの物性と計測の最前線」
    学会発表区分:国内
  • 廣瀬 幸範、辻 幸一「EBSDを用いたULSI金属材料の結晶解析技術と課題」
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:日本顕微鏡学会第63回学術講演会
    学会発表区分:国内
  • 木村 匡志、中野 和彦、辻 幸一、北野 大、中村 利廣「微量金属分析用ポリマー標準物質作製法の開発」
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:第68回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 川又 誠也、辻 幸一「ピンホールを用いた微小部全反射蛍光X線分析装置の試作」
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:第68回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 米原 翼、辻 幸一「リング状二次ターゲットを用いた小型蛍光X線プローブの試作」
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:第68回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 松田 晃典、野寺 雄太、中野 和彦、辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズの集光特性の評価」
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:第68回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、松井 宏、辻 幸一「食材中微量金属定量用蛍光X線分析用標準物質の開発」
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:第68回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演: 辻 幸一「蛍光X線分析法の医学分野への適用可能性」
    発表年月:2008年02月
    発表会議名:第2回インターキャンパス(杉本-阿倍野)研究交流会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「蛍光X線による微量元素分析技術」
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:第30回「オープン・ラボラトリー」
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一「各種元素分析法の原理と特徴 -特に蛍光X線元素分析について」
    発表年月:2007年10月
    発表会議名:日本鉄鋼協会鉄鋼工学アドバンストセミナー
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「大阪市立大学における産学官連携の取り組み」
    発表年月:2007年10月
    発表会議名:第56回矯正教育研究会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:Y. Hirose, N. Murata, T.Katayama, K. Tsuji, “Multi-dimension analysis of vias in ULSIs”
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:International Symposium on “Future Prospects of Scanning Electron / He+Ion Microscope for Nano-surface Analysis”-bridging the gap between surface analysis and electron microscopy-
    学会発表区分:日本
  • K.Tsuji, “Micro and 3D XRF studies in Osaka City University”
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:Inha University
    学会発表区分:韓国
  • ポスター:T. Yonehara, K. Tsuji, “Development of compact XRF probe and solid-liquid interface XRF analysis”
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:The 9th Asian Conference on Analytical Sciences (Asianalysis)
    学会発表区分:韓国
  • ポスター:A. Matsuda, K. Nakano, K. Tsuji, S. Komatani, S. Ohzawa, H. Uchihara, “Fundamental Research of New Optics System for micro-X-ray Fluorescence”
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:The 9th Asian Conference on Analytical Sciences (Asianalysis)
    学会発表区分:韓国
  • 口頭:K. Nakano, K. Tsuji, “Total Reflection X-Ray Fluorescence and Confocal-3D micro X-Ray Fluorescence Analyses for Chemical Microchips”
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:The 9th Asian Conference on Analytical Sciences (Asianalysis)
    学会発表区分:韓国
  • ポスター:K. Nakano, H. Matsui, K. Matsuda, M. Mizuhira, K. Tsuji, “A Quick Preparation of In-house Reference materials of the Food Grain Sample for XRF analysis”
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:The 9th Asian Conference on Analytical Sciences (Asianalysis)
    学会発表区分:韓国
  • ポスター:S. Fukuoka,K. Tsuji, “Preliminary Experiment of Micro-XRF combined with AFM”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター:A. Matsuda, K. Nakano, S. Komatani, S. Ohzawa, H. Uchihara, K. Tsuji, “Fundamental Research of X-ray Focusing Lens”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター:Y. Hanaoka, H. Matsui, K. Nakano, K. Tsuji, “Compact TXRF Instrument Developed by Using a Secondary Target and a Si Reflector”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター:T. Yonehara, K. Tsuji, “Development of a Compact XRF Probe with a Ring-type Secondary Target”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター:Y. Nishida, T. Yonehara, K. Tsuji, “Solid-Liquid Interface Analysis by Compact XRF Probe”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター:H. Matsui, K. Nakano, K. Tsuji, “Comparison of Micro-TXRF and Micro Grazing-Exit XRF”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター:K. Katsui, K. Tsuji, “Time-Resolved XRF Measurement of Living Plants”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • 口頭:K. Nakano, K. Tsuji, “Development and Applicationof confocal 3D-micro-XRFspectrometer”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM2007
    学会発表区分:日本
  • ポスター: Kazuhiko Nakano, Hiroshi Matsui, Masayuki Hino, Takashi Yamada, Kouichi Tsuji, TXRF analysis of the biological fluid samples using bench-top type TXRF spectrometer
    発表年月:2007年06月
    発表会議名:TXRF2007
    学会発表区分:イタリア
  • ポスター:K. Tsuji, T. Yonehara, K. Nakano, SOLID-LIQUID INTERFACE ANALYSIS BY LABORATORY-MADE 3D-MICRO-XRF INSTRUMENT
    発表年月:2007年05月
    発表会議名:EMAS2007
    学会発表区分:ベルギー
  • 招待講演:K. Tsuji, “Special Configurations in X-ray Fluorescence for Environmental Analysis”,
    発表年月:2007年11月
    発表会議名:The 9th Asian Conference on Analytical Sciences (Asianalysis)
    学会発表区分:韓国
  • 招待講演:K. Tsuji, “Research Plan for Development of High Spatial Resolution XRF Instrument”
    発表年月:2007年09月
    発表会議名:ICXOM 2007 Satellite meeting of Micro Area Analysis by X-ray in Laboratory
    学会発表区分:日本
  • 招待講演:K. Tsuji, “Micro-TXRF analysis with a pinhole aperture”
    発表年月:2007年06月
    発表会議名:TXRF2007
    学会発表区分:イタリア
  • 野寺 雄太、松田 晃典、中野 和彦、辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズの詳細な特性評価」
    発表年月:2007年02月
    発表会議名:H18年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第2回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 松井 宏、辻 幸一、山田 隆「血液中微量金属元素の全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2007年02月
    発表会議名:H18年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第2回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中野 和彦、堤本 薫、米原 翼「蛍光X線分析法の溶液試料や固液界面分析への応用」
    発表年月:2007年02月
    発表会議名:H18年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」第2回シンポジウム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、米原 翼、中野 和彦「共焦点型蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2006年12月
    発表会議名:第50回日本学術会議材料工学連合講演会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中野 和彦、堤本 薫、松田 晃典、米原 翼、野寺 雄太「共焦点型の3次元蛍光X線分析装置の開発と試料内部の非破壊元素分析」
    発表年月:2006年11月
    発表会議名:第26回表面科学講演大会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、野寺 雄太 米原 翼、辻 幸一「共焦点型蛍光X線分析装置を用いた三次元微小部領域における定量性の検討」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学X線分析研究懇談会主催 第42回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 米原 翼、松田 晃典、辻 幸一「蛍光X線の励起・検出を同軸で行う小型蛍光X線プローブの試作」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学X線分析研究懇談会主催 第42回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松田 晃典、中野 和彦、辻 幸一「キャピラリーX線レンズを組み合わせた微小部蛍光X線分析装置の評価」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学X線分析研究懇談会主催 第42回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松田 晃典、中野 和彦、辻 幸一「キャピラリーX線レンズを組み合わせた微小部蛍光X線分析装置の評価」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学X線分析研究懇談会主催 第42回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 川又 誠也、田中 啓太、辻 幸一「微小部全反射蛍光X線装置の試作」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学X線分析研究懇談会主催 第42回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 花岡 洋介、辻 幸一、山田 隆「マイクロ化学チップを利用する全反射蛍光分析法の評価」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学X線分析研究懇談会主催 第42回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、堤本 薫、松田 晃典、米原 翼、川又 誠也、辻 幸一「微小部蛍光X線分析の現状と問題点」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本分析化学会近畿支部 提案公募型事業(セミナー)「3次元蛍光X線分析に関する研究会」
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、堤本 薫、米原 翼、中野 和彦「固液界面への蛍光X線分析法の適用」
    発表年月:2006年10月
    発表会議名:日本学術振興会製鋼第19委員会
    学会発表区分:国内
  • 松田 晃典、米原 翼、辻 幸一「注射針様X線コリメーターを利用する液中及び固固界面・固液界面の蛍光X線分析法の提案」
    発表年月:2006年09月
    発表会議名:日本分析化学会第55年会
    学会発表区分:国内
  • 堤本 薫、辻 幸一「蛍光X線分析法による溶液および固液界面の直接測定
    発表年月:2006年09月
    発表会議名:日本分析化学会第55年会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、米原 翼、中野 和彦、「3次元蛍光X線分析法による試料内部や固液界面の元素分析
    発表年月:2006年09月
    発表会議名:日本分析化学会第55年会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一・中田 宗寛「鉄鋼試料の微小部X線分析」
    発表年月:2006年07月
    発表会議名:(社)日本鉄鋼協会 評価・分析・解析部会セミナー
    学会発表区分:国内
  • 松田 晃典・辻 幸一「ニードル型コリメーターを用いた3D-XRF装置の設計と試作」
    発表年月:2006年05月
    発表会議名:第67回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一・中野 和彦・Andriy Okhrimovskyy・酒井 卓郎・山本 春也「斜出射PIXE法による微小部の表面・薄膜測定」
    発表年月:2006年05月
    発表会議名:第67回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、辻 幸一「共焦点型蛍光X線分析装置の開発と三次元元素分析」
    発表年月:2006年05月
    発表会議名:第67回日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「蛍光X線分析法の医療分野への適用可能性」
    発表年月:2007年03月
    発表会議名:第12回次世代医療システム産業化フォーラム2006
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「X線分析機能を有する走査プローブ顕微鏡の開発」
    発表年月:2007年01月
    発表会議名:大阪市立大学ニューテクガイド2007
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「水溶液中のX線固体表面解析」
    発表年月:2007年01月
    発表会議名:表面科学技術研究会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「微小部蛍光X線分析研究の動向と鉄鋼材料への適用可能性」
    発表年月:2006年12月
    発表会議名:住友金属工業談話会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「鉄鋼試料の微小部X線分析」
    発表年月:2006年07月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 評価・分析・解析部会セミナー
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「高感度3次元蛍光X線分析装置の開発へ向けた取り組み」
    発表年月:2006年05月
    発表会議名:日本分析化学会若手フォーラムin 秋田
    学会発表区分:国内
  • 招待講演: K. Tsuji, “TXRF analysis with chemical microchip and 3D XRF analysis of solid/liquid interfaces “
    発表年月:2006年12月
    発表会議名:8 December, 2006, Dortmund, Germany
    学会発表区分:ドイツ
  • 招待講演:K. Tsuji, “Fundamental and New Trends of X-Ray Fluorescence Analysis”
    発表年月:2006年09月
    発表会議名:大阪市・上海市 研究者交流事業による招待講演会
    学会発表区分:中国
  • 招待講演:A. Von Bohlen, and K. Tsuji, “Improving the detection limits by TXRF and GEXRF”
    発表年月:2006年08月
    発表会議名:DXC2006
    学会発表区分:アメリカ
  • 招待講演:K. Tsuji, “Grazing-Exit and Micro Wavelength-Dispersive X-Ray Spectrometry (GE-WDXRS and m-WDXRS)”
    発表年月:2006年06月
    発表会議名:EXRS 2006
    学会発表区分:フランス
  • ポスター: K. Tsuji, K. Nakano, “Nondestructive elemental depth profile of Japanese lacquer Ware “Tamamushi-Nuri”byMicro GE-XRF and Confocal 3D-XRF”
    発表年月:2006年12月
    発表会議名:Cultural Heritage and Science
    学会発表区分:ベルギー
  • 口頭:K.Tsuji, A. Matsuda, “Micro-XRF Analysis using Needle-Type Collimators”
    発表年月:2006年08月
    発表会議名:DXC2006
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:KazuhikoNAKANO, Kouichi Tsuji, Toshihiro NAKAMURA, Izumi NAKAI, Akira KAWASE, Makoto IMAI, Mikio HASEGAWA, Yohichi ISHIBASHI, “Preparation and certification of the new reference materials; Plastics (disk form, JSAC 0621 – 0625) for determination of Mercury using X-ray fluorescent analysis ”
    発表年月:2006年06月
    発表会議名:EXRS 2006
    学会発表区分:フランス
  • 口頭:Kazuhiko Nakano, Xunliang Ding , KouichiTSUJI, “Development of Confocal 3D micro XRF Spectrometer with Cr-Mo Dual Excitation”
    発表年月:2006年06月
    発表会議名:EXRS 2006
    学会発表区分:フランス
  • ポスター:Kouichi TSUJI, Keita TANAKA, Yosuke NISHIDA, Kazuhiko NAKANO, Ken-ichi SASAKI, “Micro Total Reflection X-ray Fluorescence (m-TXRF)”
    発表年月:2006年06月
    発表会議名:EXRS 2006
    学会発表区分:フランス
  • 堤本 薫、中田 宗寛、田中 啓太、辻 幸一、荒井 正浩「ポリキャピラリーX線レンズを用いた鉄鋼試料の微小部蛍光X線分析」
    発表年月:2006年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会第151回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、辻 幸一「微小部蛍光X線元素分析の現状」
    発表年月:2006年02月
    発表会議名:JST先端機器開発研究成果報告会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、松田 晃典、中野 和彦「3次元蛍光X線元素分析」
    発表年月:2006年02月
    発表会議名:平成17年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」シンポジューム
    学会発表区分:国内
  • 花岡洋介、辻 幸一「マイクロ化学システムの全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2006年02月
    発表会議名:平成17年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」シンポジューム
    学会発表区分:国内
  • 松井 宏、中野 和彦、辻 幸一「穀類の蛍光X線分析のための標準試料作製」
    発表年月:2006年02月
    発表会議名:平成17年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」シンポジューム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中野 和彦「ポリキャピラリーX線レンズを用いた2次元・3次元蛍光X線分析」
    発表年月:2006年01月
    発表会議名:日本学術振興会製鋼第19委員会製鋼計測化学研究会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「高感度・微小部蛍光X線分析の開発と応用
    発表年月:2005年12月
    発表会議名:研究機構:ファインフローテクノロジーの開拓と材料創成研究会(第1回)
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズを用いた実験室における微小部蛍光X線分析の試み」
    発表年月:2005年12月
    発表会議名:日本鉄鋼協会、評価・分析・解析部会、菊池フォーラム
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「最近のX線要素技術の発展と蛍光X線分析への応用」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:(株)ルネサステクノロジ
    学会発表区分:国内
  • 花岡 洋介、渡慶次 学、北森 武彦、辻 幸一「マイクロ化学チップに対する全反射蛍光X線分析の適用」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:第41回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 堤本 薫、中野 和彦、小西 洋太郎、X. Ding、辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズを用いた微小部蛍光X線分析法の生物試料への応用」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:第41回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松田 晃典、辻 幸一「注射針を用いた3DXRF分析装置の設計と試作」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:第41回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦、松田 晃典、X. Ding、辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズを用いた共焦点型3次元蛍光X線分析装置の設計と試作」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:第41回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 松井 宏、中野 和彦、辻 幸一「蛍光X線分析による穀類食品中の微量金属の定量」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:第41回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 田中 啓太、堤本 薫、X. Ding、辻 幸一「実験室で使用されるポリキャピラリーX線レンズの特性評価」
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:第41回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 堤本 薫、江本 哲也、宮武 優、長村 俊彦、辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズを用いたm-XRFとAFMの融合装置の試作」
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:日本分析化学会年会
    学会発表区分:国内
  • 田中 啓太、中野 和彦、辻 幸一「ポリキャピラリーX線レンズを用いた微小部領域での全反射蛍光X線分析装置の試作」
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:日本分析化学会年会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、中野 和彦、酒井 卓郎、山本 春也「斜出射X線測定による高感度PIXEに関する基礎研究」
    発表年月:2005年06月
    発表会議名:第14回 TIARA 研究発表会
    学会発表区分:国内
  • 中野 和彦・中村 利廣・西田 康輔・本間 寿「プラスチック標準物質中の Pb, Cd, Cr の均一性試験」
    発表年月:2005年05月
    発表会議名:第 66 回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、Andriy Okhrimovskyy、森山 孝男「超薄膜を試料保持材とする蛍光X線分析における測定配置の検討」
    発表年月:2005年05月
    発表会議名:日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、江本 哲也、西田 洋介、玉木 栄一郎、火原 彰秀、菊谷 善国、北森 武彦「化学マイクロチップに対する蛍光X線の適応」
    発表年月:2005年05月
    発表会議名:日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding, “Micro X-ray Fluorescence analysis at OCU
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:6th China XRF International Conference
    学会発表区分:中国
  • 依頼講演:K. Tsuji, K. Nakano, “X-rayFluorescence analysis of Food Materials”,
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:National Research Center of Geoanalysis
    学会発表区分:中国
  • 招待講演:K. Tsuji, K. Tsutsumimoto, K. Tanaka, K. Nakano, X. Ding, T. Nagamura, Micro-XRF Studies using Polycapillary X-ray Lens and AFM Instrument,
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:ICXOM 2005
    学会発表区分:イタリア
  • 招待講演:K. Tsuji, K. Tanaka, K. Nakano, A. Okhrimovskyy, Y. Konish, X. Ding, “Micro-XRF analysis of biological materials”
    発表年月:2005年08月
    発表会議名:DXC2005
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara and T. Kitamori,, “APPLICATIONS OF X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS FOR CHEMICAL MICROCHIPS”
    発表年月:2005年10月
    発表会議名:9th International Conference on Miniaturized Systems for Chemical and Life Sciences (m-TAS)
    学会発表区分:アメリカ
  • ポスター:K. Tsuji, K. Tetsuoka, A. Okhrimovskyy, K. Saito, K. Asami, “LateralResolution of Electron Probe Microanalysis under Grazing Exit Conditions”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:ICXOM 2005
    学会発表区分:イタリア
  • ポスター:K. Tsuji, K. Tanaka, Y. Matsuoka, A. Okhrimovskyy, X. Ding, “Applications of Focusing X-ray Optics to TXRF Analysis”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:ICXOM 2005
    学会発表区分:イタリア
  • ポスター:K. Nakano, K. Tanaka, X. Ding, K. Tsuji, “Development of a New TXRF Instrument using Polycapillary X-ray Lens”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:TXRF2005
    学会発表区分:ハンガリー
  • ポスター:A. Okhrimovskyy, K. Tsuji, “Numerical Analysis of X-ray Induced by Electron Beam under Grazing Exit Conditions”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:TXRF2005
    学会発表区分:ハンガリー
  • ポスター:A. Okhrimovskyy, Y. Matsuoka, K. Saito, K. Tsuji, “Theoretical characterization of reflector-assisted TXRF analysis”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:TXRF2005
    学会発表区分:ハンガリー
  • 口頭:A. Okhrimovskyy, K. Tsuji, “Nondestructive depth profiling with GE-XRF through numerical modeling”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:TXRF2005
    学会発表区分:ハンガリー
  • ポスター:M. Nakata and K. Tsuji, “STUDY ON CHEMICAL SPUTTERING IN Ar(He)–H2 GAS MIXTURES GLOW DISCHERGE PLASMAS BY OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXIV
    学会発表区分:ベルギー
  • ポスター:K. Nakano, H. Matsui, K. Tsutsumimoto, K. Tanaka, T. Nakamura and K. Tsuji, “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF FOOD AND PLASTIC MATERIALSUSING CRMS JSAC 0611-0615”,
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:ColloquiumSpectroscopicum Internationake CSI XXXIV
    学会発表区分:ベルギー
  • ポスター:K Tsuji, A. Matsuda, K. Nakano, A. Okhrimovskyy, “DEPTH UNLIMITED X-RAY FLUORESCENCEANALYSIS FOR SOFT MATERIALS USING NEEDLE-TYPE COLIMATORS”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXIV
    学会発表区分:ベルギー
  • 口頭:K. Tsuji, Y. Nishida, Y. Hanaoka, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara and T. Kitamori, “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS FOR CHEMICAL MICROCHIPS”
    発表年月:2005年09月
    発表会議名:Colloquium Spectroscopicum Internationake CSIXXXIV
    学会発表区分:ベルギー
  • ポスター:K. Nakano, K. Tsuji, T. Nakamura, “Development of Plastic Certified Reference Materials for XRF analysis (JSAC 0611-0615) containing Pb, Cd, Cr”,
    発表年月:2005年08月
    発表会議名:DXC2005
    学会発表区分:アメリカ
  • 中田宗寛、辻 幸一、「アルゴン-水素混合ガスを用いたグロー放電発光分光法による鉄鋼中の炭素分析」
    発表年月:2005年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 第149回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、江本哲也、小西洋太郎、「ポリキャピラリーX線レンズを用いた微小部蛍光X線分析装置」
    発表年月:2005年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会 第149回春季講演大会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:江本哲也、長村俊彦、X. Ding、辻 幸一、「AFMを利用した微小部蛍光X線分析法」
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:第10回大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーフォーラム
    学会発表区分:国内
  • ポスター:田中啓太、松岡代志子、倉本容子、辻 幸一、「全反射蛍光X線分析法による微小部微量分析」
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:第10回大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーフォーラム
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、江本哲也、宮武優、長村俊彦、「X線マイクロビームとAFMによる微小部表面分析装置」
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:第24回日本表面科学会講演大会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:中田宗寛、辻 幸一、「グロー放電スパッタリングにより作成した薄膜試料の全反射蛍光X線分析」
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:第40回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • ポスター:西田洋介、辻 幸一、玉木栄一郎、火原彰秀、菊谷善国、北森武彦、「マイクロ化学チップに対する蛍光X線分析の適用」
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:第40回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 招待講演:辻 幸一「蛍光X線分析法」
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:第40回X線分析討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一「X線で調べるミクロの世界」
    発表年月:2004年10月
    発表会議名:大阪市立大学国際シンポジウム「材料と文明」
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、江本 哲也、西田 洋介、玉木 栄一郎、火原 彰秀、菊谷 善国、北森 武彦「化学マイクロチップに対する蛍光X線による多元素同時検出」
    発表年月:2004年09月
    発表会議名:日本分析化学会第53回年会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、酒井 卓郎、山本 春也 「斜出射X線測定による高感度PIXEに関する基礎研究」
    発表年月:2004年06月
    発表会議名:第13回TIARRA研究発表会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一 「全反射・斜出射X線測定による微量・単一粒子分析」
    発表年月:2004年06月
    発表会議名:日本学術振興会製鋼第19委員会製鋼計測化学研究会第31回会議
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一 「全反射・斜出射X線測定による微量・単一粒子分析」
    発表年月:2004年05月
    発表会議名:大阪市立大学工学部オーポンラボラトリー
    学会発表区分:国内
  • 松岡 代志子、辻 幸一 「TXRF法による血液中微量金属元素分析のためのサンプリング方法の検討」
    発表年月:2004年05月
    発表会議名:日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 江本 哲也、辻 幸一 「微小部蛍光X線分析法による植物(キノア)の成長過程における元素マッピング」
    発表年月:2004年05月
    発表会議名:日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 辻 幸一、佐藤 勇希、江本 哲也
    発表年月:2004年05月
    発表会議名:日本分析化学会討論会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:K Tsuji,"Appllications of micro x-ray fluorescence using a polycapillary x-ray lens"
    発表年月:2004年11月
    発表会議名:北京師範大学
  • 招待講演:K.Tsuji, T. Emoto, Y. Mtsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, X Ding,"Combination of scanning probe microscope and x-rayanalysis"
    発表年月:2004年08月
    発表会議名:53rd Denver X-Ray Conference
  • ポスター:K. Tsuji, K. Tetsuoka, T. Nagamura,"Improvement of reproducibility and lateral resolution of elemental analysis in grazing-exit EPMA (GE-EPMA)", ポスター発表
    発表年月:2004年06月
    発表会議名:EXRS (European X-Ray Spectrometry) 2004
  • 口頭:K. Tsuji, Y. Sato,T. Emoto,"Variation of mapping area and effect of flatness of sample surface in grazing-exit m-XRF (GE-m-XRF) analysis"
    発表年月:2004年06月
    発表会議名:EXRS (European X-Ray Spectrometry) 2004
  • ポスター: 江本哲也、佐藤勇希、辻幸一、「ポリキャピラリーX線レンズにおけるマイクロX線ビームサイズの評価と視野可変X線元素マッピング」
    発表年月:2004年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会
    学会発表区分:国内
  • ポスター: 松岡 代志子、佐藤 嘉弘、辻 幸一、「全反射蛍光X線分析法による金属試料の大気圧下表面分析」
    発表年月:2004年03月
    発表会議名:日本鉄鋼協会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演: 辻 幸一、「斜出射X線分析法の開発と応用」
    発表年月:2004年03月
    発表会議名:表面分析研究会 第23回研究会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一、「最近のX線元素分析の進展」
    発表年月:2003年12月
    発表会議名:大阪市立大学EMA懇話会
    学会発表区分:国内
  • 口頭:辻 幸一、松岡 代志子、森田 寛二、日野 雅之 「全反射蛍光X線分析法による血液中微量金属元素分析の基礎検討」
    発表年月:2003年11月
    発表会議名:第23回表面科学講演大会
    学会発表区分:国内
  • 依頼講演:辻 幸一、「局所・表面・微量X線分析を目標とする2・3の研究」
    発表年月:2003年10月
    発表会議名:関西分析研究会
    学会発表区分:国内
  • ポスター: K. Tetsuoka and K. Tsuji, “Improvement of lateral resolution of EPMA by applying grazing-exit X-ray measurements”
    発表年月:2003年10月
    発表会議名:ALC国際会議
    学会発表区分:アメリカ
  • 口頭:辻 幸一、江本 哲也、佐藤 勇希、X. Ding 「ポリキャピラリーX線レンズを用いた微小部蛍光X線分析」
    発表年月:2003年09月
    発表会議名:日本分析化学会第52年回
    学会発表区分:国内
  • ポスター: Y. Matsuoka, M. Nakata, K. Tsuji “Development ofdirectly sampling method of solid materials for total-reflection x-ray fluorescence”
    発表年月:2003年09月
    発表会議名:TXRF2003(全反射蛍光X線分析に関する国際会議)
    学会発表区分:日本
  • ポスター: Emoto, Y. Sato, K. Tsuji, Xunliang Ding “Development of micro X-ray fluorescence analysis instrument using polycapillary X-ray lens and its application”
    発表年月:2003年09月
    発表会議名:TXRF2003(全反射蛍光X線分析に関する国際会議)
    学会発表区分:日本
  • ポスター:T. Emoto, K. Tsuji, Y. Kikutani, M. Tokeshi, T. Kitamori (Osaka City University, KAST, The University of Tokyo, Japan) “Development of a Micro- and Surface- XRF Instrument and its Application in Micro-Chemical Systems”
    発表年月:2003年09月
    発表会議名:TXRF2003サテライト国際会議
    学会発表区分:日本
  • ポスター:K. Tsuji “Combination of Scanning Tunneling Microscopeand X-ray Analysis”
    発表年月:2003年09月
    発表会議名:TXRF2003サテライト国際会議
    学会発表区分:日本
  • 口頭:辻幸一 「X線元素マッピングによる金属-セラミックス界面の観察」
    発表年月:2003年05月
    発表会議名:第64回分析化学討論会
    学会発表区分:国内
  • 口頭発表:辻 幸一、「斜出射X線測定型-微小部蛍光X線分析装置の開発」
    発表年月:2003年04月
    発表会議名:第8回大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーファーラム
    学会発表区分:国内
  • 口頭発表:辻 幸一、Filip Delalieux「金属-セラミックス界面を有する溶解凝固金属の蛍光X線元素マッピング」
    発表年月:2003年03月
    発表会議名:第145回日本鉄鋼協会春季講演大会
    学会発表区分:国内

学会誌等の編集・審査

  • 2000年から現在にかけて、国際学術雑誌:X-Ray Spectrometryの編集委員(Editorial Advisory Board)
    活動年月:2000年01月

教育活動

担当教育の概要

  • 学部では「物理化学2」と「物理化学3」、「物理分析化学」の講義を担当している。その他、3回生の学生実験指導、および、学部4回生の卒業研究の指導、ゼミや雑誌会を通して、指導している。大学院では「機器分析学特論」を講義するとともに、修士・博士課程の学生の研究指導を行っている。社会人博士や留学生の受け入れ・研究指導も行っている。研究指導は主に元素分析法、機器分析法の開発と各分野への応用研究である。

担当講義

  • 担当年度:2016年
    授業科目名:物理分析化学
    講義区分:専門
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:物理化学Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:物理化学Ⅲ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:応用化学実験Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:卒業研究Ⅰ・Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:機器分析学特論
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:特別演習
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:前期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:ゼミナール
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2016年
    授業科目名:後期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:物理分析化学
    講義区分:専門
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:物理化学Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:物理化学Ⅲ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:応用化学実験Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:卒業研究Ⅰ・Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:機器分析学特論
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:特別演習
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:前期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:ゼミナール
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2015年
    授業科目名:後期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:物理分析化学
    講義区分:専門
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:物理化学Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:物理化学Ⅲ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:応用化学実験Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:卒業研究Ⅰ・Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:機器分析学特論
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:特別演習
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:前期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:ゼミナール
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2014年
    授業科目名:後期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:物理分析化学
    講義区分:専門
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:物理化学Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:物理化学Ⅲ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:応用化学実験Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:卒業研究Ⅰ・Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:機器分析学特論
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:特別演習
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:前期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:ゼミナール
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2013年
    授業科目名:後期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:総合教育科目A「技術と環境」
    講義区分:共通
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:物理分析化学
    講義区分:専門
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:物理化学Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:物理化学Ⅲ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:応用化学実験Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:卒業研究Ⅰ・Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:機器分析学特論
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:特別演習
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:前期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:ゼミナール
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2012年
    授業科目名:後期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:物理分析化学
    講義区分:専門
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:物理化学Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:物理化学Ⅲ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:応用化学実験Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:卒業研究Ⅰ・Ⅱ
    講義区分:専門
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:機器分析学特論
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:特別演習
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:前期特別研究
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:ゼミナール
    講義区分:大学院
  • 担当年度:2011年
    授業科目名:後期特別研究
    講義区分:大学院

教育活動実績

  • 担当年度:2014
    博士課程学生指導数【前期:5人】
    博士課程学生指導数【後期:0人】
    修士論文審査数【主査:1】
    修士論文審査数【副査:4】
    博士論文審査数【主査:0】
    博士論文審査数【副査:5】
    卒論指導数:4
    卒論審査数:8
    FD活動内容:学内のFD集会などに出席し、講義の改善に努めた。

国際交流

学術交流協定校との連携内容

  • 内容:平成25年度大阪市立大学ードイツ・ハンブルグ大学交流事業 Dr. Ursula Fittschen(ドイツ、ハンブルグ大学、研究員)
  • 内容:2011年度の工学研究科学生海外派遣国際交流事業により1名の博士課程学生の韓国Inha大学での研究指導を行った
  • 内容:平成23-24年度日本学術振興会 二国間交流事業 (オーストリアとの共同研究(FWF))「鑑識試料中の軽元素の共焦点蛍光X線分析に関する共同研究」が採択され、先方の研究者との交流を深めた。実際には、2011年11月にはウィーン工科大から3名の研究者の来学を受け、2012年1月には私(辻)と大学院学生2名とでウィーン工科大学を訪問し、学生2名は10日間程の共同実験を行った。

国外研修参加実績

  • 内容:国際学会等派遣事業(日本学術振興会)によりDenver X-ray Conference, 2-6 August, 2010, Denver,USAに参加
  • 内容:国際学会等派遣事業(日本学術振興会)においてDenver X-ray Conference, 1-5 August, 2005, Denver, USAに参加
  • 内容:大阪市立大学在外研究員としてALC国際会議出席旅費補助(カウアイ、ハワイ)に参加
  • 内容:国際研究集会派遣研究員として5th International Topical Meeting on Industrial Radioisotope and Radiation Measurement Applications (IRRMA-V), 9 -14 June 2002, Bologna, ItalyとEuropean Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany.に参加
  • 内容:在外研究員(創造開発研究 IBM チューリッヒ研究所、バーゼル大学(スイス)
  • 交流年月:2000年12月
    内容:国際研究集会派遣研究員として“7th Latin American Seminary of Analysis by X-ray Techniques” 19-24, Nov. 2000, Sao Pedro, Brazilに参加

国際シンポジウム活動

  • 内容:第15回全反射蛍光X線分析に関する国際会議(TXRF2013)と第49回X線分析討論会の合同国際会議 (2013年9月23日(月、祝) ~ 9月27日(金)  大阪市立大学 杉本キャンパス 学術情報総合センター ) 議長・実行委員長
  • 内容:Channeling 2012, "5th International Conference Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena", (23-28 September 2012, Alghero (SS), Italy)のProgram Committee member
  • 内容:科学技術振興機構 JST国際強化支援策シンポジウム「微小部・微量X線分析法」(大阪市立大学学術情報総合センター、2009年2月12-14日) 実行委員長
  • 内容:第19回ICXOM(微小部X線光学素子と微小部分析に関する国際会議)サテライト国際会議 実行委員・代表者 (ホテルグランビア大阪2007年9月)
  • 内容:第10回全反射蛍光X線分析に関する国際会議(TXRF2003)の「微小部X線分析に関するサテライト会議」(大阪市立大学文化交流センター)実行委員長
  • 内容:平成14年10月5-9日、第4回原子レベルでのキャラクタリゼーションに関する国際会議(ALC2003) 実行委員会プログラム委員

その他国際交流活動

  • 内容:平成25年度日本学術振興会外国人招へい研究者(短期) Prof. Laura Depero (イタリア・ブレシア大学、教授)
  • 内容:平成25年度大阪市立大学外国人招へい研究者受入事業 Prof. Héctor Jorge Sánchez 国立コルドバ大学(アルゼンチン)・数理宇宙学部・教授
  • 内容:JSPS二国間交流事業により、3名のオーストリアからの研究者を交えて、2011年11月11日には「法科学に有効な機器分析法」に関する公開セミナーを本学梅田サテライトの文化交流センターにて開催した。
  • 内容:2011 中国国際工業博覧会(2011年10月31日-11月4日;上海市、中国)に、大学院修士課程の留学生カクショウさんを伴い参加し、ポスター発表として出展した。
  • 内容:H18年度 日本学術振興会「中国科学院との覚書による招へい事業」Prof. Zhuo Shangjun, 中国科学院上海セラミックス研究所の受入教員H19年2月21日-H19年3月18日
  • 内容:平成16年度日本学術振興会外国人特別研究員 Dr. Andriy Okhrimovskyy (ウクライナ・航空宇宙大学、研究員)
  • 内容:平成14年度日本学術振興会外国人招へい研究者(短期) Prof. Rene Van Grieken (ベルギー・アントワープ大学化学科、教授)

産学官連携可能情報

専門分野

  • 工業分析化学

所属研究部門

  • 工学研究科 化学生物系専攻(化学バイオ工学)

交流可能研究テーマ

  • 微小部および3次元X線分析
    研究テーマの分野:材料工学
  • 工程管理などに利用可能なその場分析法の開発
    研究テーマの分野:プロセス工学
  • 全反射蛍光X線分析法による迅速・微量分析の応用
    研究テーマの分野:化学

現在の研究課題

  • 課題名:X線や電子線を用いる微小部微量分析法の開発と応用
    研究分野:工業分析化学、表面界面物性、分離・精製・検出法
    キーワード:全反射蛍光X線分析、3次元元素分析、環境分析
  • 課題名:グロー放電プラズマの分光分析への応用
    研究分野:工業分析化学、工業物理化学
    キーワード:グロー放電、プラズマプロセス、発光分析
  • 課題名:走査プローブ顕微鏡の分析的応用
    研究分野:表面界面物性、工業分析化学
    キーワード:走査プローブ顕微鏡、微小部分析、表面科学

電子メールアドレス

  • tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp

個人URL HP

交流研究テーマ情報

交流可能研究テーマ

  • 微小部および3次元X線分析
    研究テーマの分野:材料工学
    研究テーマの概要:実験室で使用できる微小部の蛍光X線分析装置の開発とその応用。複数のポリキャピラリーX線レンズを用いた共焦点型蛍光X線分析装置による3次元元素分析を開発し、非破壊元素分析の特徴を生かして、各種分野に応用
    交流可能な時期・期間:2002-
    交流の種別:共同研究、技術相談、講演
    知識・技術の活用分野・応用方法等:非破壊分析、その場分析、材料開発、鑑識科学
    キーワード:X線分析、微小部分析
    共同研究の希望:産学連携等、民間を含む他機関との共同研究を希望する
  • 工程管理などに利用可能なその場分析法の開発
    研究テーマの分野:プロセス工学
    研究テーマの概要:全反射蛍光X線分析法やポータブル蛍光X線分析装置やその他分光法による各種材料の製造過程における工程管理のための分析法の開発を支援する。
    交流可能な時期・期間:2002-
    交流の種別:共同研究、技術相談、講演
    知識・技術の活用分野・応用方法等:試料がある場所で精度良く分析する。環境汚染場所。リサイクル企業。
    キーワード:X線分析
    共同研究の希望:産学連携等、民間を含む他機関との共同研究を希望する
  • 全反射蛍光X線分析法による迅速・微量分析の応用
    研究テーマの分野:化学
    研究テーマの概要:全反射蛍光X線分析法は溶液・微粒子試料を平坦基板上に保持し、非破壊的に短時間で分析する方法である。マイクロ化学チップや環境分析などに応用していく。
    交流可能な時期・期間:2003年から
    交流の種別:共同研究、技術相談、受託研究、講演
    知識・技術の活用分野・応用方法等:医学・生物・化学などあらゆる分野での共同研究を希望します。
    キーワード:微量分析、迅速分析、マイクロ化学チップ
    共同研究の希望:産学連携等、民間を含む他機関との共同研究を希望する

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